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? 可測熒光誘導(dǎo)曲線并進行淬滅分析? 可測光響應(yīng)曲線和快速光曲線（rlc）? 全部采用led光源，全新觸摸屏設(shè)計? 新增濕度測量功能，新增遠紅光源? 儀器更加便攜，適合野外測量? 可通過微光纖與光合儀（如gfs-3000）聯(lián)用? 采用5號電池供電，備用電池易獲得，適合長期野外使用

特點 ＊ 聲譽卓著的pam-2100的升級版? ＊ 精巧、、迅速、操作簡便的光合作用檢測設(shè)備? ＊ 利用強大的umpc電腦進行操作，基于windows操作系統(tǒng)，界面友好? ＊ 利用超強發(fā)光二極管（led）提供光化光和飽和脈沖，不再使用散熱量大的鹵素燈? ＊ 強大的數(shù)據(jù)收集、分析和存貯功能? ＊ 內(nèi)置鋰電池可滿足長時間野外工作需要，并可連接外置12 v電池? ＊ 多種葉夾可供選擇，設(shè)計的光適應(yīng)葉夾2030-b可同時記錄par和溫度變化? ＊ 60 g硬盤，無限量存儲

產(chǎn)品簡介：tf200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。tf200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復(fù)校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。