其它產(chǎn)品及廠(chǎng)家
溫度微型pcr檢測(cè)儀，主要由基因擴(kuò)增熱循環(huán)系統(tǒng)、熒光實(shí)時(shí)檢測(cè)系統(tǒng)、微電路控制系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)及應(yīng)用軟件組成。
更新時(shí)間:2025-08-28
anet智能通信管理機(jī)系列是一款采用嵌入式硬件計(jì)算機(jī)平臺(tái)，具有多個(gè)下行通信接口及一個(gè)或者多個(gè)上行網(wǎng)絡(luò)接口，作為信息采集系統(tǒng)中采集終端與平臺(tái)系統(tǒng)間的橋梁，能夠根據(jù)不同的采集規(guī)約進(jìn)行水表、氣表、電表、微機(jī)保護(hù)等設(shè)備終端的數(shù)據(jù)采集匯總，并使用相應(yīng)的規(guī)約轉(zhuǎn)發(fā)現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備的數(shù)據(jù)給平臺(tái)系統(tǒng)。
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基于可擴(kuò)展技術(shù)的強(qiáng)大功能，compax3系列驅(qū)動(dòng)器可以解決各種應(yīng)用類(lèi)型-從基本模擬轉(zhuǎn)矩/速度和步進(jìn)/方向控制到具有電子cam控制和plcopen功能模塊的智能驅(qū)動(dòng)器，在符合iec 61131-3的標(biāo)準(zhǔn)下，還可以使用codesys開(kāi)發(fā)環(huán)境進(jìn)行編程。compax3系列驅(qū)動(dòng)器支持同步，異步，線(xiàn)性和轉(zhuǎn)矩電機(jī)技術(shù)，以及各種反饋選項(xiàng)。
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派克fl20-s系列是一款高性能的伺服驅(qū)動(dòng)器，尤其適用薄膜生產(chǎn)線(xiàn)以及類(lèi)似的應(yīng)用。全閉環(huán)控制響應(yīng)頻率高達(dá)1.2khz，反饋有增量編碼器，juedui值編碼器和旋轉(zhuǎn)變壓器可選。fl20-s內(nèi)置rs485/232上位機(jī)檢測(cè)口。提供canopen和ethercat通訊卡選項(xiàng)。和派克標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)置ehtercat的pac控制器一起配置可以提供包括電機(jī)在內(nèi)的整體方案。
更新時(shí)間:2025-08-28
派克pv系列行星齒輪減速機(jī)在經(jīng)濟(jì)的外殼中實(shí)現(xiàn)了功率與多用性結(jié)合。這一個(gè)系列包含眾多選擇，包括各種輸出法蘭涵括派克bayside px, alpha lp,neugart ple, stober pe及標(biāo)準(zhǔn)nema減速機(jī)。
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shg/shf系列組合型是一種以組件型為核心，易于操作的組合化產(chǎn)品。內(nèi)置用于直接支撐(主軸承)外部負(fù)載的精密、具有高剛性的交叉滾子軸承。
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csg/csf系列緊湊簡(jiǎn)潔的設(shè)計(jì)，高轉(zhuǎn)矩容量，高剛性，無(wú)齒隙，優(yōu)良的定位精度和旋轉(zhuǎn)精度，輸入輸出同軸。主要應(yīng)用于工業(yè)機(jī)器人和半導(dǎo)體設(shè)備，適合需要高精度、高速化和高負(fù)載容量的場(chǎng)合。由于其高剛性、無(wú)齒隙的特性，特別適合于需要精密定位和重復(fù)定位精度要求嚴(yán)格的系統(tǒng)，如精密裝配、半導(dǎo)體制造和精密機(jī)床。
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hmds鍍膜烤箱，hmds真空鍍膜系統(tǒng)預(yù)處理性能更好，更加均勻；效率高,一次可以處理多達(dá)4盒的晶片；更加節(jié)省藥液；低液報(bào)警、防藥液泄漏等具有很強(qiáng)的安全保護(hù)功能；，有可自動(dòng)吸取添加hmds功能，智能型的程式設(shè)定，一鍵完成作業(yè)。
更新時(shí)間:2025-08-28
傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款高度集成化、多參數(shù)協(xié)同檢測(cè)的設(shè)備，專(zhuān)為材料科學(xué)、電子器件、能源及傳感技術(shù)領(lǐng)域的復(fù)雜測(cè)試需求設(shè)計(jì)。融合溫度、電阻、電容、壓電、電化學(xué)五大測(cè)試模塊，支持40通道同步測(cè)量與8通道化學(xué)分析，覆蓋-20℃至500℃寬溫區(qū)、10pa至1a寬量程、20hz至10mhz寬頻段等參數(shù)，可完成材料介電特性、傳感器動(dòng)態(tài)響應(yīng)、電化學(xué)行為等多維度表征。
更新時(shí)間:2025-08-28
傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款高度集成化、多參數(shù)協(xié)同檢測(cè)的設(shè)備，專(zhuān)為材料科學(xué)、電子器件、能源及傳感技術(shù)領(lǐng)域的復(fù)雜測(cè)試需求設(shè)計(jì)。融合溫度、電阻、電容、壓電、電化學(xué)五大測(cè)試模塊，支持40通道同步測(cè)量與8通道化學(xué)分析，覆蓋-20℃至500℃寬溫區(qū)、10pa至1a寬量程、20hz至10mhz寬頻段等參數(shù)，可完成材料介電特性、傳感器動(dòng)態(tài)響應(yīng)、電化學(xué)行為等多維度表征。
更新時(shí)間:2025-08-28
傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款高度集成化、多參數(shù)協(xié)同檢測(cè)的設(shè)備，專(zhuān)為材料科學(xué)、電子器件、能源及傳感技術(shù)領(lǐng)域的復(fù)雜測(cè)試需求設(shè)計(jì)。融合溫度、電阻、電容、壓電、電化學(xué)五大測(cè)試模塊，支持40通道同步測(cè)量與8通道化學(xué)分析，覆蓋-20℃至500℃寬溫區(qū)、10pa至1a寬量程、20hz至10mhz寬頻段等參數(shù)，可完成材料介電特性、傳感器動(dòng)態(tài)響應(yīng)、電化學(xué)行為等多維度表征。
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華測(cè)儀器的hc-rd-1100可以同時(shí)測(cè)定樣品在rt至1500°c溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。熱功率、熱電勢(shì)、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小，單位是v/k。
更新時(shí)間:2025-08-28
華測(cè)儀器的hc-rd-1100可以同時(shí)測(cè)定樣品在rt至1500°c溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。熱功率、熱電勢(shì)、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小，單位是v/k。
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本高頻介電溫譜系統(tǒng)主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)性能測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于體，可測(cè)試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜co-co圖，機(jī)電耦合系數(shù)等，同時(shí)可分析被測(cè)樣隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線(xiàn)，測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
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塊體材料高溫/變溫電滯回線(xiàn) 變溫鐵電測(cè)試盒，高溫鐵電測(cè)試儀用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量，可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中。本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
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偏差1/60，抗干擾性能提高300倍16mm 大口徑三軸連接器電流輸入端口全新采用大口徑三軸連接器，是將內(nèi)部屏蔽連接至 guard(com) 線(xiàn)，外部屏蔽連接至 ground的 3 層同軸設(shè)計(jì)。兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時(shí)的an全性。升了的2kv浮動(dòng)電路新的hc浮動(dòng)電路與三軸連接器組合使用可有效增強(qiáng)對(duì)電源干擾或外來(lái)干擾的穩(wěn)定性(
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適用范圍：測(cè)量熔噴布、防護(hù)服靜電電荷測(cè)試測(cè)量防靜電工作服和紡織品的帶電電量電子材料和其它元件的電荷量測(cè)試測(cè)量靜電導(dǎo)體的電容量測(cè)量靜電火花放電電量測(cè)量各種粉體、液體、固體的帶電電荷量研究摩擦帶電系列傳感器特性分析測(cè)量物體表面電位及電荷面密度納米電子器件特性分析
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tsc （tsdc）熱刺激電流測(cè)試儀（熱激發(fā)電流分析儀）， 熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡(jiǎn)單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測(cè)量出某些物質(zhì)（如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐體等）的微觀(guān)參數(shù)，熱刺激法是一面對(duì)材料升溫一面進(jìn)行測(cè)量，即非等溫測(cè)量。
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法拉第圓筒由華測(cè)儀器生產(chǎn)，可配合電荷量表，是法拉第圓筒實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)裝置，即一個(gè)開(kāi)口的空心銅筒，用于測(cè)量束團(tuán)電荷量和壓制中子發(fā)生器中的二次電子，該筒具有強(qiáng)抗干擾能力、非破壞性、長(zhǎng)壽命與低維護(hù)的特點(diǎn)，在粒子物理實(shí)驗(yàn)中，法拉第筒是能直接測(cè)量電荷量的設(shè)備，為理論模型提供驗(yàn)證基準(zhǔn)，被廣泛應(yīng)用于粒子加速器、質(zhì)譜分析、半導(dǎo)體制造、靜電防護(hù)等領(lǐng)域。
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華測(cè)儀器生產(chǎn)的簡(jiǎn)易探針臺(tái)光電測(cè)試，主要用于電學(xué)性能測(cè)試，該探針臺(tái)具有靈活性、低成本的特點(diǎn)，結(jié)構(gòu)緊湊、性?xún)r(jià)比高、穩(wěn)定性強(qiáng)、具備模塊化和可擴(kuò)展性，其主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件研發(fā)、光電子與顯示技術(shù)以及工業(yè)與工程應(yīng)用。
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低溫真空探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。接下來(lái)測(cè)試人員通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），準(zhǔn)確扎到被測(cè)點(diǎn)，從而使其訊號(hào)線(xiàn)與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通，通過(guò)測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。
更新時(shí)間:2025-08-28
低溫真空探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。接下來(lái)測(cè)試人員通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），準(zhǔn)確扎到被測(cè)點(diǎn)，從而使其訊號(hào)線(xiàn)與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通，通過(guò)測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。
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低溫真空探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。接下來(lái)測(cè)試人員通過(guò)旋轉(zhuǎn)探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），準(zhǔn)確扎到被測(cè)點(diǎn)，從而使其訊號(hào)線(xiàn)與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通，通過(guò)測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。
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hcdjc系列電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話(huà)方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)、顯示、打印一體化功能。
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hcdjc系列電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話(huà)方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)、顯示、打印一體化功能。
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hcdjc系列電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話(huà)方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)、顯示、打印一體化功能。
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hcdjc系列電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話(huà)方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)、顯示、打印一體化功能。
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hcdjc系列電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話(huà)方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)、顯示、打印一體化功能。
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hcdjc系列電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話(huà)方式，完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的采集處理，支持?jǐn)?shù)據(jù)存儲(chǔ)、顯示、打印一體化功能。
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面對(duì)材料因結(jié)露、吸濕、電場(chǎng)環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設(shè)備可有效簡(jiǎn)便評(píng)估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。試驗(yàn)系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實(shí)際生產(chǎn)、使用、儲(chǔ)存和運(yùn)輸過(guò)程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測(cè)試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。
更新時(shí)間:2025-08-28
面對(duì)材料因結(jié)露、吸濕、電場(chǎng)環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設(shè)備可有效簡(jiǎn)便評(píng)估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。試驗(yàn)系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實(shí)際生產(chǎn)、使用、儲(chǔ)存和運(yùn)輸過(guò)程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測(cè)試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。
更新時(shí)間:2025-08-28
面對(duì)材料因結(jié)露、吸濕、電場(chǎng)環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設(shè)備可有效簡(jiǎn)便評(píng)估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。試驗(yàn)系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實(shí)際生產(chǎn)、使用、儲(chǔ)存和運(yùn)輸過(guò)程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測(cè)試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。
更新時(shí)間:2025-08-28
面對(duì)材料因結(jié)露、吸濕、電場(chǎng)環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設(shè)備可有效簡(jiǎn)便評(píng)估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。試驗(yàn)系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實(shí)際生產(chǎn)、使用、儲(chǔ)存和運(yùn)輸過(guò)程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測(cè)試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。
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hcyd高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀采用fpga數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測(cè)試頻率，配合聲學(xué)與振動(dòng)公司b&k生產(chǎn)的激振器作為振源，相對(duì)傳統(tǒng)的d33測(cè)量?jī)x測(cè)量精度更高，測(cè)量量程更寬，可靠性更高，操作更簡(jiǎn)單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能。
更新時(shí)間:2025-08-28
hcyd高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀采用fpga數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測(cè)試頻率，配合聲學(xué)與振動(dòng)公司b&k生產(chǎn)的激振器作為振源，相對(duì)傳統(tǒng)的d33測(cè)量?jī)x測(cè)量精度更高，測(cè)量量程更寬，可靠性更高，操作更簡(jiǎn)單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關(guān)器件性能。
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d33準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)試驗(yàn)儀除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)極化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。可縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，同時(shí)也直接影響著換能器的性能參數(shù)。
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d33準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)試驗(yàn)儀除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)極化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多？煽v向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，同時(shí)也直接影響著換能器的性能參數(shù)。
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d33準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)試驗(yàn)儀除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性性能外，還具有壓電性能。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)極化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)性能參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的性能參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多？煽v向壓電應(yīng)變常數(shù)d33是壓電材料的基本物理參數(shù)。它不僅決定了壓電材料的性能，同時(shí)也直接影響著換能器的性能參數(shù)。
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1.鐵電的評(píng)價(jià)與測(cè)試2.壓電材料的評(píng)價(jià)與測(cè)試3.壓電陶瓷的評(píng)價(jià)與測(cè)試4.高分子的評(píng)價(jià)與測(cè)試5.相關(guān)器件性能的評(píng)價(jià)與測(cè)試
更新時(shí)間:2025-08-28
1.溫度波動(dòng)小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍2.消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響3.消除不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能，更強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽4.專(zhuān)用高頻測(cè)試線(xiàn)纜，更適合高頻測(cè)量
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離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過(guò)絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備。它通過(guò)在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（可按需定制），觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評(píng)估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。
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離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場(chǎng)作用下通過(guò)絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備。它通過(guò)在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（可按需定制），觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評(píng)估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。
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1.溫度波動(dòng)小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍2.消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響3.消除不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能，更強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽4.專(zhuān)用高頻測(cè)試線(xiàn)纜，更適合高頻測(cè)量
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1.溫度波動(dòng)小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍2.消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響3.消除不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能，更強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽4.專(zhuān)用高頻測(cè)試線(xiàn)纜，更適合高頻測(cè)量
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低壓漏電起痕試驗(yàn)儀是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。耐漏電起痕試驗(yàn)（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的 導(dǎo)電液體 ，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測(cè)定其相比電痕化指數(shù) (ct1) 和耐電痕化指數(shù)(pt1) 。
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huace650t高低溫冷熱臺(tái)（可定制）由華測(cè)儀器多位工程師多年開(kāi)發(fā)，冷熱臺(tái)可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試，采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。
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