◆ 測(cè)試方法:固體標(biāo)樣參比法等測(cè)試,統(tǒng)計(jì)層厚法(計(jì)算外比表面積、粒度估算;◆ 測(cè)試精度:測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。測(cè)試相對(duì)誤差小于±1.5%; ◆ 測(cè)試時(shí)間:固體標(biāo)樣參比法同時(shí)可測(cè)試3個(gè)樣品,平均每個(gè)樣品測(cè)定時(shí)間約6分鐘,以上測(cè)試時(shí)間不包含樣品預(yù)處理時(shí)間。由于具有風(fēng)熱助脫利技術(shù),為國(guó)內(nèi)測(cè)試速度快比表面儀;
更新時(shí)間:2025-05-14