表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠(chǎng)家
dt304-353便攜式阻抗測(cè)試儀具有易于攜帶、操作簡(jiǎn)便、測(cè)量迅速、顯示結(jié)果直觀等特點(diǎn)。供電采用直流供電，內(nèi)置充電電池，用于現(xiàn)場(chǎng)無(wú)電源情況下使用，滿(mǎn)電狀態(tài)下可以連續(xù)測(cè)量10小時(shí)。
更新時(shí)間:2025-10-21
便攜式電阻儀 表面電阻測(cè)試儀該儀器為一臺(tái)便攜式電阻儀，規(guī)格為103 歐姆/米2 ～1012 歐姆/米2 ，精確度為±101/2。它主要用于測(cè)量表面電阻接地電阻。
更新時(shí)間:2025-10-21
干擾測(cè)量阻抗匹配器 干擾測(cè)量阻抗匹配儀 干擾測(cè)量阻抗匹分析儀dt307-zn28200干擾測(cè)量阻抗匹配器專(zhuān)門(mén)用于高壓電器設(shè)備無(wú)線(xiàn)電干擾測(cè)量，在進(jìn)行測(cè)量試驗(yàn)時(shí)
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置im7587阻抗分析儀廠(chǎng)家，北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)及銷(xiāo)售紅外線(xiàn)測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬(wàn)用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置im7585阻抗分析儀廠(chǎng)家，北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)及銷(xiāo)售紅外線(xiàn)測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬(wàn)用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置im7583阻抗分析儀廠(chǎng)家，北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)及銷(xiāo)售紅外線(xiàn)測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬(wàn)用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置im7581阻抗分析儀廠(chǎng)家，北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)及銷(xiāo)售紅外線(xiàn)測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬(wàn)用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置im7580a阻抗分析儀廠(chǎng)家，北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)及銷(xiāo)售紅外線(xiàn)測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬(wàn)用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置im3590化學(xué)阻抗分析儀廠(chǎng)家，北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)及銷(xiāo)售紅外線(xiàn)測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬(wàn)用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置im3570阻抗分析儀廠(chǎng)家，北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)及銷(xiāo)售紅外線(xiàn)測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬(wàn)用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
高溫四探針電阻率測(cè)試儀功能介紹：液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：
更新時(shí)間:2025-10-21
四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀，使用方便；配備軟件電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
更新時(shí)間:2025-10-21
ft-353絕緣材料高溫表面電阻測(cè)試儀適用范圍：適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線(xiàn)電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
更新時(shí)間:2025-10-21
硅片高溫方阻測(cè)試儀 廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ito）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù) 硅片高溫方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-10-21
浙江高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)廠(chǎng)家直銷(xiāo) 液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表； 浙江高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)廠(chǎng)家直銷(xiāo)
更新時(shí)間:2025-10-21
直流低電阻測(cè)試儀性能特點(diǎn):5位led顯示，穩(wěn)定性好。最小的分辨率：1μω直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分選及訊響功能提供rs-232c接口及handler接口（選配）
更新時(shí)間:2025-10-21
智能粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠(chǎng)、焦化廠(chǎng)、石化廠(chǎng)、粉末冶金廠(chǎng)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開(kāi)關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范
更新時(shí)間:2025-10-21
四探針電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-10-21
寧波半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀 按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-10-21
負(fù)極材料粉末電阻率測(cè)試儀 滿(mǎn)足：yst 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測(cè)方法 第6部分 粉末電阻率的測(cè)定；本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠(chǎng)、焦化廠(chǎng)、石化廠(chǎng)、粉末冶金廠(chǎng)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。
更新時(shí)間:2025-10-21
導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，實(shí)驗(yàn)室是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電阻率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
多功能材料電阻率測(cè)試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，實(shí)驗(yàn)室是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電阻率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置
更新時(shí)間:2025-10-21
通用型粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠(chǎng)、焦化廠(chǎng)、石化廠(chǎng)、粉末冶金廠(chǎng)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開(kāi)關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
更新時(shí)間:2025-10-21
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時(shí)間:2025-10-21
導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量.同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
更新時(shí)間:2025-10-21
材料低電阻率測(cè)試儀滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時(shí)間:2025-10-21
雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
四探針?lè)阶鑳x按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰b/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時(shí)間:2025-10-21
方塊電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn).
更新時(shí)間:2025-10-21
薄膜方阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā贰b/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-10-21
數(shù)字式四探針測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
自動(dòng)導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀采用一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，將粉末比電阻的測(cè)量與粉體電阻率/電導(dǎo)率分析為一體，測(cè)量與數(shù)據(jù)分析通過(guò)pc軟件完成，粉體壓強(qiáng)與電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值的變化關(guān)系
更新時(shí)間:2025-10-21
雙電測(cè)電四探針電阻率測(cè)試儀本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
薄膜電阻率測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-10-21
薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-10-21
導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
更新時(shí)間:2025-10-21
端子電壓降測(cè)試儀滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時(shí)滿(mǎn)足德國(guó)、法國(guó)、韓國(guó)、日本、等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求和測(cè)試規(guī)范，電壓降實(shí)驗(yàn)按qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn)5.7進(jìn)行實(shí)驗(yàn) qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn).
更新時(shí)間:2025-10-21
經(jīng)濟(jì)型表面電阻和體積電阻測(cè)試儀 適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線(xiàn)電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
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ft-310炭素材料電阻率測(cè)試儀四端測(cè)試法測(cè)量碳素材料，石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導(dǎo)電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源，自動(dòng)顯示電流和電壓并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示，自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率等數(shù)據(jù)，選配：如配備軟件可，通過(guò)軟件操控儀器工作，并獲得測(cè)試數(shù)據(jù)之圖表和測(cè)試結(jié)果。根據(jù)產(chǎn)品形狀不同可以選配測(cè)試治具.
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金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程,適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料.
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絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法，絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長(zhǎng)方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動(dòng)狀），目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少，本機(jī)主要能滿(mǎn)足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外，還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)。
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糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)，功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠(chǎng)、焦化廠(chǎng)、石化廠(chǎng)、粉末冶金廠(chǎng)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試
更新時(shí)間:2025-10-21
石墨粉電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè)，功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠(chǎng)、焦化廠(chǎng)、石化廠(chǎng)、粉末冶金廠(chǎng)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治
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粉末電阻率測(cè)試儀 本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠(chǎng)、焦化廠(chǎng)、石化廠(chǎng)、粉末冶金廠(chǎng)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試
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塑料絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨，概況：(1)適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》
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瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠(chǎng)、焦化廠(chǎng)、石化廠(chǎng)、粉末冶金廠(chǎng)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。
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瑞柯系列普通四探針電阻率測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā?、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦
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電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀的供應(yīng)商根據(jù)國(guó)標(biāo)gb11017-89所規(guī)定的測(cè)試方法和技術(shù)要求制造，用來(lái)測(cè)試高壓電纜半導(dǎo)電內(nèi)外屏蔽層的電阻率，四端法測(cè)試原理，通過(guò)測(cè)試裝置能夠滿(mǎn)足不同線(xiàn)徑之產(chǎn)品測(cè)量其屏蔽層電阻率。
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系列雙電四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀數(shù)據(jù)管理粉體受到壓縮直至平穩(wěn)時(shí)，粉體空隙率非常小，壓實(shí)密度接近于真密度狀態(tài)，則此時(shí)測(cè)試出來(lái)的粉末電導(dǎo)率為接近于理論值.
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覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
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