EDX2000A江浙滬金手指鍍層厚度測厚儀

江浙滬金手指鍍層厚度測厚儀是一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測厚設備，不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)geng加顯現(xiàn)，geng能hen好地滿足半導體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。

更新時間:2025-08-22

該公司產(chǎn)品分類：江蘇天瑞儀器股份有限公司

EDX2000A天瑞鍍層測厚儀

天瑞鍍層測厚儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統(tǒng)。

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EDX2000A天瑞晶元鍍層厚度測厚儀

天瑞晶元鍍層厚度測厚儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統(tǒng)。

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EDX2000A半導體器件鍍層厚度測量儀器

半導體器件鍍層厚度測量儀器對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統(tǒng)。

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EDX2000A江蘇天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀

江蘇天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統(tǒng)。

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EDX2000A五金衛(wèi)浴鍍層厚度測量儀

五金衛(wèi)浴鍍層厚度測量儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統(tǒng)。

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EDX2000A天瑞儀器PCB板鍍層厚度測試儀

天瑞儀器pcb板鍍層厚度測試儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統(tǒng)。

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EDX2000A天瑞儀器電鍍廠用鍍層厚度膜厚儀

天瑞儀器電鍍廠用鍍層厚度膜厚儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統(tǒng)。

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EDX-V多導毛細聚焦鍍層測厚儀

多導毛細聚焦鍍層測厚儀采用多導毛細管x射線光學系統(tǒng)，對于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。

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EDX-V功能性多導毛細聚焦鍍層測厚儀

功能性多導毛細聚焦鍍層測厚儀采用多導毛細管x射線光學系統(tǒng)，對于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。

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EDX-V表面無損厚度測厚儀,鍍層厚度膜厚儀

表面無損厚度測厚儀,鍍層厚度膜厚儀是天瑞儀器集30多年x熒光膜厚測量技術，研發(fā)的一款x射線熒光鍍層測厚及成分分析儀。儀器采用多導毛細管x射線光學系統(tǒng)，對于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。

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EDX-V半導體功能性鍍層測厚儀

半導體功能性鍍層測厚儀是天瑞儀器集30多年x熒光膜厚測量技術，研發(fā)的一款x射線熒光鍍層測厚及成分分析儀。儀器采用多導毛細管x射線光學系統(tǒng)，對于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。

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EDX-T晶圓金屬鍍膜膜厚儀

晶圓金屬鍍膜膜厚儀edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術，研發(fā)的一款quan xin上照式x射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭，zi動化的 x/y/z 軸的三維移動，實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進行快速對焦jing準分析。

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EDX-T晶圓鍍鎳銀錫膜厚儀

晶圓鍍鎳銀錫膜厚儀edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術，研發(fā)的一款quan xin上照式x射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭，zi動化的 x/y/z 軸的三維移動，實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進行快速對焦jing準分析。

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EDX-T鋁膜厚度測厚儀

鋁膜厚度測厚儀edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術，研發(fā)的一款quan xin上照式x射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭，zi動化的 x/y/z 軸的三維移動，實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進行快速對焦jing準分析。

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EDX-T硅膜厚度測厚儀

硅膜厚度測厚儀edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術，研發(fā)的一款quan xin上照式x射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭，zi動化的 x/y/z 軸的三維移動，實現(xiàn)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進行快速對焦jing準分析。

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EDX600Pro汽車零部件ABS鍍銅鎳鉻膜厚儀

汽車零部件abs鍍銅鎳鉻膜厚儀設計一鍵測試按鈕和高精密x/y移動滑軌使得檢測方便快捷；對不同產(chǎn)品大小及材質，均可自由切換合適的準直器、濾光片進行準確測量。

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EDX600Pro鐵鍍鋁鋅膜厚儀

鐵鍍鋁鋅膜厚儀設計一鍵測試按鈕和高精密x/y移動滑軌使得檢測方便快捷；對不同產(chǎn)品大小及材質，均可自由切換合適的準直器、濾光片進行準確測量。

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EDX-V晶圓鍍鈦鎳金膜厚儀

晶圓鍍鈦鎳金膜厚儀采用多導毛細管x射線光學系統(tǒng)，能在其微小的測量面積上產(chǎn)生較高的激發(fā) qiang 度。對于微米級尺寸電子零件、芯片導線、晶圓微區(qū)等部件上的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。

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EDX-V晶圓鍍鈦鎳金膜厚儀

晶圓鍍鈦鎳金膜厚儀采用多導毛細管x射線光學系統(tǒng)，能在其微小的測量面積上產(chǎn)生較高的激發(fā) qiang 度。對于微米級尺寸電子零件、芯片導線、晶圓微區(qū)等部件上的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。

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EDX-VIC封裝載板鍍層膜厚儀

ic封裝載板鍍層膜厚儀采用多導毛細管x射線光學系統(tǒng)，能在其微小的測量面積上產(chǎn)生較高的激發(fā) qiang 度。對于微米級尺寸電子零件、芯片導線、晶圓微區(qū)等部件上的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。

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EDX-V集成電路板鎳金鍍層膜厚儀

集成電路板鎳金鍍層膜厚儀采用多導毛細管x射線光學系統(tǒng)，能在其微小的測量面積上產(chǎn)生較高的激發(fā) qiang 度。對于微米級尺寸電子零件、芯片導線、晶圓微區(qū)等部件上的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。

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EDX600Plus金屬化陶瓷行業(yè)錳鉬鎳膜厚分析儀

金屬化陶瓷行業(yè)錳鉬鎳膜厚分析儀采用jin 口的gao功率 gao 壓單元搭配微焦斑的x光管和較小的準直器：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等

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EDX600Plus天瑞X射線鍍層膜厚分析儀

天瑞x射線鍍層膜厚分析儀采用jin 口的gao功率 gao 壓單元搭配微焦斑的x光管和較小的準直器：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等

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EDX600Plus蘇州X熒光金屬膜厚分析儀

蘇州x熒光金屬膜厚分析儀采用jin 口的gao功率 gao 壓單元搭配微焦斑的x光管和較小的準直器：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等

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EDX600Plus五金鎖具鍍層厚度膜厚分析儀

五金鎖具鍍層厚度膜厚分析儀采用jin 口的gao功率 gao 壓單元搭配微焦斑的x光管和較小的準直器：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等

更新時間:2025-08-22

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EDX600Plus天瑞XRF鍍層膜厚儀

天瑞xrf鍍層膜厚儀采用jin 口的gao功率 gao 壓單元搭配微焦斑的x光管和較小的準直器：0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等

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EDX2000A芯片引腳鍍層厚度測厚儀（多點連測）

芯片引腳鍍層厚度測厚儀（多點連測）edx2000a quan 自動微區(qū)膜厚測試儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態(tài)的樣品進行快速對焦準確分析。

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EDX600PLUS電路板電鍍層厚度檢測儀器

pcb線路板鍍層檢測儀應用域電鍍行業(yè)五金衛(wèi)浴電子電器磁性材料

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EDX600PLUS電鍍測試儀xray

電鍍測試儀xray硬件配置采用高分辨率的sdd探測器，分辨率高達140ev進口的大功率高壓，讓ag,sn等鍍層的測量能較加穩(wěn)定。配備微聚焦的x光管，猶如給發(fā)動機增加了渦輪增壓，讓數(shù)據(jù)的準確性較上層樓。

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EDX600PLUS測量鍍膜厚度的儀器

測量鍍膜厚度的儀器硬件配置采用高分辨率的sdd探測器，分辨率高達140ev進口的大功率高壓，讓ag,sn等鍍層的測量能較加穩(wěn)定。配備微聚焦的x光管，猶如給發(fā)動機增加了渦輪增壓，讓數(shù)據(jù)的準確性較上層樓。

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EDX600PLUSxrf電鍍層測試儀

xrf電鍍層測試儀設計亮點全新的下照式設計，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標鍵盤不再成為必須，大減少您擺放樣品的時間。全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴散，實現(xiàn)了對較小產(chǎn)品的測試。

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EDX2000Ax射線電鍍層測厚儀器

x射線電鍍層測厚儀器是由江蘇天瑞儀器股份有限公司研發(fā)、生產(chǎn)、銷售一體化的全自動微區(qū)鍍層膜厚測試儀。采用進口高分辨率的fast sdd探測器，高達140ev分辨率，能準確地解析每個元素的特征信號，針對復雜底材以及多層復雜鍍層，優(yōu)勢巨大。

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EDX2000AX射線鍍層測厚儀器

x射線電鍍層測厚儀器是由江蘇天瑞儀器股份有限公司研發(fā)、生產(chǎn)、銷售一體化的全自動微區(qū)鍍層膜厚測試儀。采用進口高分辨率的fast sdd探測器，高達140ev分辨率，能準確地解析每個元素的特征信號，針對復雜底材以及多層復雜鍍層，優(yōu)勢巨大。

更新時間:2025-08-22

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EDX2000AX光電鍍層膜厚儀

x光電鍍層膜厚儀可變焦高精攝像頭，搭配距離補正系統(tǒng)，不僅可適應微小產(chǎn)品，同時也兼顧了臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求�？删幊潭帱c測試，能自動完成對多個樣品多個點的測試，大大提高測樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng)，讓您永遠不再為數(shù)據(jù)突然變化而擔心。

更新時間:2025-08-22

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EDX2000Ax-ray電鍍膜厚儀

x-ray電鍍膜厚儀可變焦高精攝像頭，搭配距離補正系統(tǒng)，不僅可適應微小產(chǎn)品，同時也兼顧了臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求�？删幊潭帱c測試，能自動完成對多個樣品多個點的測試，大大提高測樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng)，讓您永遠不再為數(shù)據(jù)突然變化而擔心。

更新時間:2025-08-22

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EDX600PLUS鍍層膜厚測定儀

鍍層膜厚測定儀硬件配置采用高分辨率的sdd探測器，分辨率高達140ev進口的大功率高壓，讓ag,sn等鍍層的測量能較加穩(wěn)定。配備微聚焦的x光管，猶如給發(fā)動機增加了渦輪增壓，讓數(shù)據(jù)的準確性較上層樓。

更新時間:2025-08-22

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EDX600PLUS金屬鍍層測量儀器

金屬鍍層測量儀器軟件界面人性化的軟件界面，讓操作變得較加便捷。曲線的中文備注，讓您的操作較易上手。儀器硬件功能的實時監(jiān)控，讓您的使用較加放心。

更新時間:2025-08-22

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EDX600PLUS電鍍用膜厚測試儀

電鍍用膜厚測試儀測量不同類型的樣品時，需從程序欄中選擇其對應的選項，才能的測量效果。為使儀器能長期保持工作正常，需定期對儀器的各項參數(shù)進行測試，并進行調(diào)整。

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EDX600PLUS鍍層厚度測量儀器

鍍層厚度測量儀器軟件界面人性化的軟件界面，讓操作變得較加便捷。曲線的中文備注，讓您的操作較易上手。儀器硬件功能的實時監(jiān)控，讓您的使用較加放心。

更新時間:2025-08-22

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EDX600PLUS電鍍層分析儀設備

電鍍層分析儀設備edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測厚儀經(jīng)驗，門研發(fā)的一款下照式結構的鍍層測厚儀。對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進行檢測�？蓮V泛應用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空**、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。

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EDX600PLUS測定電鍍膜厚儀器機器

測定電鍍膜厚儀器機器edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測厚儀經(jīng)驗，門研發(fā)的一款下照式結構的鍍層測厚儀。對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進行檢測。

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EDX600PLUSX熒光膜厚檢測儀器

x熒光膜厚檢測儀器edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測厚儀經(jīng)驗，門研發(fā)的一款下照式結構的鍍層測厚儀。對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進行檢測�？蓮V泛應用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空**、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。

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EDX600PLUS電鍍鍍鋅層厚度測試儀

電鍍鍍鋅層厚度測試儀每次開機后，儀器都必須先預熱30分鐘，然后進行初始化，方可進行正常的檢測工作。測量不同類型的樣品時，需從程序欄中選擇其對應的選項，才能的測量效果。為使儀器能長期保持工作正常，需定期對儀器的各項參數(shù)進行測試，并進行調(diào)整。

更新時間:2025-08-22

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THICK800AX熒光厚度測厚儀

x熒光厚度測厚儀采用高度定位激光，可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加精準4、直觀：直觀的分析譜圖，元素分布幕了然，定性分析速度快5、環(huán)保：檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水公司介紹

更新時間:2025-08-22

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THICK800A熒光x射線儀鍍層測厚儀

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量般為ppm到99.9% 。鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個可選擇的分析和識別模型。熒光x射線儀鍍層測厚儀相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。

更新時間:2025-08-22

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THICK800Ax 熒光光譜測厚儀

x 熒光光譜測厚儀采用高度定位激光，可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加精準良好的射線屏蔽作用任意多個可選擇的分析和識別模型。熒光x射線儀鍍層測厚儀相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。

更新時間:2025-08-22

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THICK800AX射線熒光膜厚儀器

相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。x射線熒光膜厚儀器電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸： 576(w)×495(d)×545(h) mm 樣品室尺寸：500(w)×350(d)×140(h) mm重量：90kg 標準配置開放式樣品腔。

更新時間:2025-08-22

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THICK800AX-射線熒光分析測厚儀

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求x-射線熒光分析測厚儀高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm測試口高度敏感性傳感器保護

更新時間:2025-08-22

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THICK800Ax熒光膜測厚儀

相互獨立的基體效應校正模型。x熒光膜測厚儀多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸： 576(w)×495(d)×545(h) mm 樣品室尺寸：500(w)×350(d)×140(h) mm重量：90kg 標準配置開放式樣品腔。

更新時間:2025-08-22

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