edx4500系列設(shè)備的真空測(cè)量室能夠通過(guò) x 射線熒光分析 (rfa) 檢測(cè)原子序數(shù)從na(11)開(kāi)始的輕元素。由于空氣會(huì)吸收輕元素的熒光x射線,因此在大氣環(huán)境中通常無(wú)法使用該方法。因此,該儀器非常適合對(duì)要求嚴(yán)苛的鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量和材料分析。
explorer 5000t手持式xrf鍍層厚度分析儀是先使用新大屏高分辨率液晶顯示屏及新型數(shù)字多道數(shù)據(jù)處理器的便攜式手持鍍層測(cè)厚分析儀。explorer 5000t可對(duì)大面積鍍層產(chǎn)品進(jìn)行膜厚分析,儀器不僅體積小、重量輕,可隨身攜帶進(jìn)行測(cè)量;而且性能,堪比臺(tái)式機(jī)。