掃描透射電子顯微鏡（STEM）產(chǎn)品及廠家
球差校正掃描透射電子顯微鏡 hd-2700，配備了與德國(guó)ceos gmbh公司(總經(jīng)理max haider先生)共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高納米技術(shù)研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差，使其與標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)顯微鏡相比，分辨率提高了1.5倍，同時(shí)，探針電流提高了10倍。
更新時(shí)間:2025-08-22
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