本設(shè)備是引進日本全套超聲波技術(shù)精工制作的超聲波清洗設(shè)備。該設(shè)備采用了超聲波發(fā)生器與清洗槽連為一體,利用了空間,從而使整個設(shè)備體積小、重量輕。適用于家庭、機械、電子、汽車、機車、摩托車、電鍍、紡織、化纖、航空、光學(xué)、軸承、商業(yè)、輕工、大專院校、科研單位等對金銀首飾、鐘表零件、眼鏡零件、精密零件、五金零件、開關(guān)、印刷線路板、電位器、電容器、半導(dǎo)體元件、機車汽閥、汽車摩托車油箱、氣化栓、氣門點火栓、操縱盤零件、彈簧、氣門、噴嘴、過濾器、活塞環(huán)、打火機、餐具、照明、燈具、軸承零件、陶瓷、制筆等批量清洗、脫氣、消泡、乳化、混均、置換、提取。 主要性能及特點: ●槽體采用進口SUS304、SUS316L不銹鋼板材沖壓、拉伸焊接成型。 ●清洗速度快,提高生產(chǎn)效率。 ●對深孔、細縫和工件隱蔽處有較強的清洗能力。 ●節(jié)省溶劑、熱能、工作場地和人工。 ●不須用人工清洗,安全。 ●清洗工作時間可以調(diào)整和設(shè)定。 ●清洗溫度可以任意調(diào)整。 ●外排水結(jié)構(gòu),無水時自動報警。 |
美國Nalgene 3120 離心瓶,聚丙烯共聚物;聚丙烯螺旋蓋
目錄編號3120 | -0250 | -0500 | -9500 | -1000 | -1010 |
標(biāo)稱容量,ml | 250 | 500 | 500 | 1000 | 1000 |
每盒數(shù)量 | 4 | 4 | 4 | 4 | 4 |
每箱數(shù)量 | 36 | 24 | 24 | 16 | 16 |
目錄編號3121 | -0250 |
標(biāo)稱容量,ml | 250 |
每盒數(shù)量 | 6 |
每箱數(shù)量 | 36 |
目錄編號3122 | -0250 | -0500 | -1000 | -1010 |
標(biāo)稱容量,ml | 250 | 500 | 1000 | 1000 |
每盒數(shù)量 | 4 | 4 | 4 | 4 |
每箱數(shù)量 | 36 | 24 | 16 | 16 |
目錄編號3137 | -0250 |
標(biāo)稱容量,ml | 250 |
每盒數(shù)量 | 1 |
每箱數(shù)量 | 6 |
目錄編號3140 | -0250 | -0500 |
標(biāo)稱容量,ml | 250 | 450 |
每盒數(shù)量 | 4 | 4 |
每箱數(shù)量 | 36 | 24 |
目錄編號3141 | -0250 | -0500 |
標(biāo)稱容量,ml | 250 | 500 |
每盒數(shù)量 | 4 | 4 |
每箱數(shù)量 | 36 | 24 |
目錄編號3123 | -0250 |
標(biāo)稱容量,ml | 250 |
每盒數(shù)量 | 4 |
每箱數(shù)量 | 36 |
目錄編號3143 | -0175 |
標(biāo)稱容量,ml | 175 |
每盒數(shù)量 | 4 |
每箱數(shù)量 | 36 |
目錄編號3144 | -0175 |
標(biāo)稱容量,ml | 175 |
每盒數(shù)量 | 4 |
每箱數(shù)量 | 36 |
目錄編號3145 | -0175 |
標(biāo)稱容量,ml | 175 |
每盒數(shù)量 | 12 |
每箱數(shù)量 | 48 |
目錄編號DS3126 | -0175 |
外徑,mm | 61 |
每箱數(shù)量 | 4 |
目錄編號 | 蓋尺寸,mm | 每箱數(shù)量 |
DS3111-0016 | 16 | 20 |
DS3111-0017 | 17 | 20 |
DS3111-0018 | 18 | 20 |
DS3111-0025 | 25 | 20 |
DS3111-0029 | 29 | 20 |
DS3111-0030 | 30 | 20 |
DS3111-0032 | 32 | 20 |
目錄編號DS3131 | -0020 | -0024 | -0038 |
適合蓋尺寸 | 20 | 24 | 38 |
適合NALGENE管 | 3114-0030 | 3114-0050 | 3120-0250;3122-0250;3123-0250;3127-0250 |
每箱數(shù)量 | 2 | 2 | 2 |
T3Ster運用先進的JEDEC穩(wěn)態(tài)實時測試方法(JESD51-1),專業(yè)測試各類IC(包括二極管、三極管、MOSFET、SOC、MEMS等)、LED、散熱器、熱管、PCB及導(dǎo)熱材料等的熱阻、熱容及導(dǎo)熱系數(shù)、接觸熱阻等熱特性。配合專為LED產(chǎn)業(yè)開發(fā)的選配件TERALED可以實現(xiàn)LED器件和組件的光熱一體化測量。
符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)。
T3Ster熱阻測試儀工作原理:
T3Ster設(shè)備提供了非破壞性的熱測試方法,其原理為:1) 首先通過改變電子器件的功率輸入;2) 通過TSP (Temperature Sensitive Parameter熱敏參數(shù))測試出電子器件的瞬態(tài)溫度變化曲線;3) 對溫度變化曲線進行數(shù)值處理,抽取出結(jié)構(gòu)函數(shù);4) 從結(jié)構(gòu)函數(shù)中自動分析出熱阻和熱容等熱屬性參數(shù)。T3Ster熱阻測試儀設(shè)備參數(shù):● 加熱電壓范圍:標(biāo)配1-10V,不確定度小于±1%。選配功率放大器,最大電壓可達280V● 加熱電流范圍:標(biāo)配0.01-2A,不確定度小于±1%。選配功率放大器,最大電流達100A或更大● 加熱功率脈沖:無時間限制● 熱阻測量范圍:0.002-1000℃/W,不確定度小于±1%● 測試通道數(shù)量:標(biāo)配2通道,同一主機箱內(nèi)可以升級至8通道● 溫度采集響應(yīng)時間:1μs● 溫度測量精度:±0.01℃● 通道測量解析度:12bit● 通道噪聲:±1bit● 取樣容量:每個通道64k
T3Ster熱阻測試儀應(yīng)用范圍:● 各種三極管、二極管等半導(dǎo)體分立器件,包括:常見的半導(dǎo)體閘流管、雙極型晶體管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件! 各種復(fù)雜的IC以及MCM、SIP、SoC等新型結(jié)構(gòu) 。● 各種復(fù)雜的散熱模組的熱特性測試,如熱管、風(fēng)扇等! 半導(dǎo)體器件結(jié)溫測量! 半導(dǎo)體器件穩(wěn)態(tài)熱阻及瞬態(tài)熱阻抗測量! 半導(dǎo)體器件封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析,包括器件封裝內(nèi)部每層結(jié)構(gòu)(芯片+焊接層+熱沉等)的熱阻和熱容參數(shù)。● 半導(dǎo)體器件老化試驗分析和封裝缺陷診斷,幫助用戶準(zhǔn)確定位封裝內(nèi)部的缺陷結(jié)構(gòu)。● 材料熱特性測量(導(dǎo)熱系數(shù)和比熱容)! 接觸熱阻測量,包括導(dǎo)熱膠、新型熱接觸材料的導(dǎo)熱性能測試。
主要特點:● T3Ster符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)。 ● T3Ster兼具JESD51-1定義的靜態(tài)測試法(Static Mode)與動態(tài)測試法(Dynamic Mode),能夠?qū)崟r采集器件瞬態(tài)溫度響應(yīng)曲線(包括升溫曲線與降溫曲線),其采樣率高達1微秒,測試延遲時間高達1微秒,結(jié)溫分辨率高達0.01℃! T3Ster既能測試穩(wěn)態(tài)熱阻,也能測試瞬態(tài)熱阻抗。● T3Ster的研發(fā)者MicRed制定了全球第一個用于測試LED的國際標(biāo)準(zhǔn)JESD51-51,以及LED光熱一體化的測試標(biāo)準(zhǔn)JESD51-52。T3Ster和TeraLED是目前全球唯一滿足此標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的光熱一體化測試要求的! T3Ster獨創(chuàng)的Structure Function(結(jié)構(gòu)函數(shù))分析法,能夠分析器件熱傳導(dǎo)路徑上每層結(jié)構(gòu)的熱學(xué)性能(熱阻和熱容參數(shù)),構(gòu)建器件等效熱學(xué)模型,是器件封裝工藝、可靠性試驗、材料熱特性以及接觸熱阻的強大支持工具。因此被譽為熱測試中的“X射線”! T3Ster可以和熱仿真軟件FloEFD無縫結(jié)合,將實際測試得到的器件熱學(xué)參數(shù)導(dǎo)入仿真軟件進行后續(xù)仿真優(yōu)化。
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