Zetatrac新型Zetatrac 納米/Zeta電位分析儀
30多年來(lái)，Microtrac 公司一直于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒，早在1990年，納米顆粒分析儀器，NPA引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的能譜概念，利用背散射Back-scattered和異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型，取代傳統(tǒng)的光子相關(guān)光譜PCS,Photon Correlation Spectroscopy方法，將分析范圍為延伸至0.003-6.5µm。隨著技術(shù)的發(fā)展，Microtrac 公司不斷完善其麾下的專(zhuān)業(yè)顆粒分析儀器，快速分析高濃度的納米顆粒，生化材料及膠體體系成為現(xiàn)實(shí)，成為眾多行業(yè)納米分析的參考儀器。 應(yīng)用領(lǐng)域： 有機(jī)聚和物和高分子研究，納米金屬和其他納米無(wú)機(jī)物，結(jié)晶分析，表面活性劑膠束大小，蛋白質(zhì)，甾體，DNA，RNA，極稀濃度或不宜稀釋高濃度的樣品分析。
主要特點(diǎn)
﹡ 專(zhuān)利的異相多譜勒頻移Heterodyne Doppler Frequency Shifts技術(shù)，比較傳統(tǒng)的多譜勒頻 移分析方法，獲得顆粒散射信號(hào)的強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)，提高分析結(jié)果的性 ﹡ 專(zhuān)利的可控參比方法CRM, Controlled Reference Method，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能 譜，確保分析的靈敏度 ﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，避免了多重散射現(xiàn)象，高濃度溶液中納米顆粒測(cè) 試的性 ﹡ 的“Y型”光纖光路系統(tǒng)，精確聚焦藍(lán)寶石測(cè)量窗口，消除雜散光對(duì)檢測(cè)器的負(fù)面影響 ﹡ 專(zhuān)利的快速傅利葉變換算法FFT，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method，迅速處理檢 測(cè)系統(tǒng)獲得的光譜，縮短分析時(shí)間 ﹡ 引進(jìn)“非球形”顆粒概念對(duì)米氏理論計(jì)算的校正因素，內(nèi)置常用分析物質(zhì)光學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)，提 高顆粒粒度分布測(cè)試的性 ﹡ 符合甚至部分超過(guò)ISO 13321 激光粒度分析國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)－納米分析部分 ﹡ 符合甚至部分超過(guò)21 CFR PART 11 安全要求及FDA標(biāo)準(zhǔn)
技術(shù)參數(shù)
粒度范圍：0.8納米－ 6.5微米 Zeta 電位測(cè)量：+/- 5mv 電泳遷移：+/- 0.4 μs/volt/cm 重復(fù)性：誤差小于1%（標(biāo)準(zhǔn)顆粒） 測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)及米氏理論 專(zhuān)利技術(shù)：HDF，CRM，F(xiàn)FT，“Ｙ”型光纖光路設(shè)計(jì)，“非球形”顆粒校正選項(xiàng)，微電場(chǎng)設(shè)計(jì)技術(shù) 檢測(cè)角度：180º 濃度范圍：0.1ppm – 40wt% 分析時(shí)間：30-120 秒 光源：3mW 780nm 半導(dǎo)體光纖 樣品體積：0.2ml 操作軟件：兼容Windows 98, 2000,NT, XP等 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13321 環(huán)境溫度：10ºC to 35ºC 相對(duì)濕度：小于90%
激光粒度儀及Zeta電位分析儀
酸堿、氧化-還原電位分析儀 型號(hào):M294094
| 酸堿、氧化-還原電位分析儀 型號(hào):M294094 | |
| TW61M/PH/ORP-2002型酸堿、氧化-還原電位分析儀以操作簡(jiǎn)便，運(yùn)行穩(wěn)定著稱(chēng)，該品牌的酸堿、氧化-電位變送器具 有以下功能優(yōu)勢(shì)： 穩(wěn)定性好、低干擾 采用LCD顯示視界 采用電壓穩(wěn)定、抗干擾性強(qiáng)的線(xiàn)性電源 主要操作由一個(gè)鍵完成，操作非常簡(jiǎn)單 可選擇4-20mA信號(hào)隔離輸出（通訊接口） 適用高輸入阻抗的電極 特別適用于廢水處理系統(tǒng)、純水系統(tǒng)等過(guò)程 電極護(hù)套管：可耐強(qiáng)酸、強(qiáng)堿、1-4米可以任意選擇尺寸 安裝支架：全不銹鋼設(shè)計(jì)、美觀(guān)、機(jī)械強(qiáng)度好 電極信號(hào)線(xiàn)：日本進(jìn)口同芯屏蔽電纜、5-200米可選 標(biāo)準(zhǔn)成套配備： 1、PH/ORP變送器 2、PH/ORP電極 3、電極護(hù)套管（1米，可選擇加長(zhǎng)） 4、防水接線(xiàn)盒（1P65） 5、安裝支架（全不銹鋼設(shè)計(jì)） 6、電極信號(hào)線(xiàn)（20米，可選擇加長(zhǎng)） 主要技術(shù)參數(shù)： 測(cè) 量 范 圍 :0－14PH、－1000-1000mV 精 確 度: 0.01PH、1mV 操 作 溫 度: 0-60℃ 顯 示: 液晶顯示屏 信 號(hào) 輸 出: DC4-20mA Max. Load 1k 控 制 : ON/OFF 接 點(diǎn) 電 流 :220VAC Max. 3A 設(shè) 定 點(diǎn): 2 電 源:220VAC 50Hz 開(kāi) 孔 尺 寸:92mm(H)-92mm(W)-110mm(D) 凈 重: 0.2Kg 電 極 選 擇 S-400-RT330-A10FF PH污水及管路安裝電極 S-400-RTPBO-A10FF PH污水及管路安裝電極S400-02-Y PH/ORP經(jīng)濟(jì)型電極 | 產(chǎn)品圖片  |
NANOPLUS納米粒度與Zeta電位分析儀
NanoPlus是一款新型的、具有極寬測(cè)試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術(shù)來(lái)分析納米粒度和zeta電位，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標(biāo)準(zhǔn)。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，可同時(shí)滿(mǎn)足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求，濃度范圍由0.001%到40%，可檢測(cè)粒徑從0.6nm到10μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。
該款儀器具有以下技術(shù)特點(diǎn)：
- 可測(cè)定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位
- 可測(cè)定固體zeta電位
- 寬粒徑范圍（0.6nm~10μm），寬濃度范圍（粒徑測(cè)試：0.00001%~40%，zeta電位測(cè)試：0.001%~40%）
- 可精確測(cè)量稀釋或濃縮的懸浮液
- 用戶(hù)友好的軟件
- 多種樣品池選擇
- 可選擇一次性樣品池
- 結(jié)合線(xiàn)性相關(guān)器和對(duì)數(shù)相關(guān)器相結(jié)合的技術(shù)對(duì)各種樣品進(jìn)行表征
- 可選擇自動(dòng)滴定裝置控制懸浮液PH值
產(chǎn)品應(yīng)用：
半導(dǎo)體
研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。
醫(yī)藥和食品行業(yè)
乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。
陶瓷和顏料工業(yè)
表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無(wú)機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。
聚合物和化工領(lǐng)域
乳劑（涂料和粘合劑）的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過(guò)程研究，紙漿添加劑研究。
DDS-307A電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A/電導(dǎo)率儀/在線(xiàn)電導(dǎo)儀/雷磁電導(dǎo)儀/電位分析儀
電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A/電導(dǎo)率儀/在線(xiàn)電導(dǎo)儀/雷磁電導(dǎo)儀/電位分析儀
電導(dǎo)率儀-上海雷磁數(shù)字電導(dǎo)率儀DDS-307A
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WAVE 2305多孔固體孔隙率和表面電位分析儀
多孔固體孔隙率和zeta電位分析儀主要特點(diǎn)：
1、測(cè)定多孔固體材料的兩種不同性質(zhì)的參數(shù)：孔隙率和固體表面zeta電位，包括孔壁電荷
2、探頭式測(cè)量孔隙率，快速、安全、無(wú)污染，對(duì)樣品無(wú)損傷
3、探頭式測(cè)定zeta電位
應(yīng)用領(lǐng)域：只要是孔徑在儀器測(cè)試范圍之內(nèi)、能被某種液體浸潤(rùn)的材料均可進(jìn)行分析。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：陶瓷、電池材料、建材、耐火材料、巖心、食品、制藥、色譜柱基質(zhì)等等
美國(guó)康塔（Quantachrome）是的當(dāng)代顆粒技術(shù)開(kāi)創(chuàng)者。四十年多來(lái)，康塔（Quantachrome）的科學(xué)家革新了測(cè)量技術(shù)并設(shè)計(jì)了相應(yīng)的儀器，使得粉體及多孔物質(zhì)的測(cè)量更加精確、精密，更加。這包括：比表面積分析儀，比表面積和孔徑分析儀，薄膜孔徑和孔隙度分析儀，超聲粒度及ZETA電位分析儀，圖像粒度儀，大孔孔徑分析壓汞儀，水吸附分析儀，高壓吸附儀，真密度計(jì)，振實(shí)密度儀等。美國(guó)康塔公司不僅通過(guò)了ISO9001 及歐洲CE 認(rèn)證，也取得了美國(guó)FDA IQ/OQ認(rèn)證。
更多信息請(qǐng)關(guān)注康塔官方網(wǎng)站，請(qǐng)點(diǎn)擊這里
NICOMP 380納米粒徑與電位分析儀
Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 專(zhuān)為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案基本信息
儀器型號(hào)：N3000 Basic
工作原理：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）
檢測(cè)范圍： 0.3nm-10.0μm
Nicomp 380 N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380DLS基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái)，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有獨(dú)特技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
1、高靈敏度PMT檢測(cè)器；
2、可搭配不同功率光源；
3、精確度高，接近樣品真實(shí)值；
4、快速檢測(cè)，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；
5、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；
6、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；
7、無(wú)需校準(zhǔn)；
8、復(fù)合型算法：
（1）高斯（Gaussion）單峰算法與獨(dú)特的Nicomp多峰算法自由切換
9、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí)；
（1）可自動(dòng)稀釋模塊（選配）；
（2）自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；
（3）搭配多角度檢測(cè)器（選配）；
Nicomp多峰分布概念
基線(xiàn)調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所獨(dú)有的兩個(gè)主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符，因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開(kāi)創(chuàng)性的開(kāi)創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。
圖一：Nicomp多分分布數(shù)據(jù)呈現(xiàn)
如圖一：此數(shù)據(jù)為Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole親測(cè)其血液所得的真實(shí)案例。其檢測(cè)項(xiàng)目為：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由圖中可以看出，其血液中三個(gè)組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可見(jiàn)，Nicomp分布模式可以有效反應(yīng)多組分體系的粒徑分布。
Nicomp多峰分布優(yōu)勢(shì)
Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過(guò)Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì)，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。
圖二：高斯分布及Nicomp多峰分布對(duì)比圖
如圖二：此數(shù)據(jù)為檢測(cè)93nm和150nm的標(biāo)粒按照1:2的比例混合后所測(cè)得的數(shù)據(jù)。左邊為高斯分布（Gaussian）結(jié)果，右圖為Nicomp多峰分布算法結(jié)果，兩者都為光強(qiáng)徑數(shù)據(jù)。從高斯分布可以得到此混合標(biāo)粒的平均粒徑為110nm-120nm之間，卻無(wú)法得到實(shí)際的多組分體系結(jié)構(gòu)。從右側(cè)的Nicomp多峰分布可以得到結(jié)果為雙峰，即如數(shù)據(jù)呈現(xiàn)，體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，這和實(shí)際情況相符。
為滿(mǎn)足不同客戶(hù)的實(shí)際檢測(cè)需求，我司的Nicomp 380 N3000會(huì)配備相應(yīng)的配置，旨在為客戶(hù)們?cè)诳刂瞥杀镜幕A(chǔ)上，得到需求的解決方案，取得收益。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
模塊化設(shè)計(jì)
Nicomp 380納米激光粒度儀是全球率先在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級(jí)和增加，Nicomp 380的功能體系越來(lái)越強(qiáng)大，可以用于各種復(fù)雜體系的檢測(cè)分析。
自動(dòng)稀釋模塊
帶有獨(dú)特的自動(dòng)稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來(lái)的誤差，且不需要人工不斷試錯(cuò)來(lái)獲得合適的測(cè)試濃度，這大大縮短了測(cè)試者寶貴時(shí)間，且無(wú)需培訓(xùn)，測(cè)試結(jié)果重現(xiàn)性好，誤差率＜1%。
380/HPLD大功率激光器
美國(guó)PSS粒度儀公司在開(kāi)發(fā)儀器的過(guò)程中，考慮到在各種極端實(shí)驗(yàn)測(cè)試條件中不同的需求，對(duì)不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對(duì)小的粒子也能搜集到足夠的散射信號(hào)，使得儀器能夠得到小粒子的粒徑分布。同樣，大功率激光器在測(cè)試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助，比如在檢測(cè)右旋糖酐大分子時(shí)，折射率的特性會(huì)引起光散射強(qiáng)度不足。
因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦，?huì)彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減，測(cè)試微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒(méi)有色譜分離，Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。
雪崩二極管 (APD) 探測(cè)器
Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測(cè)器（相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果）。
APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來(lái)增加信噪比和敏感度，如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度低的體系以及大分子基團(tuán)，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對(duì)光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個(gè)大功率激光發(fā)生器模塊，在非常短的時(shí)間內(nèi)就能檢測(cè)分析納米級(jí)顆粒的分布情況。
380/MA多角度檢測(cè)器（選配）
粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測(cè)角器通過(guò)調(diào)節(jié)檢測(cè)角度來(lái)增加粒子對(duì)光的敏感性來(lái)測(cè)試某些特殊級(jí)別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175，步長(zhǎng)0.7°的多角度測(cè)角器，從而使得單一90°檢測(cè)角測(cè)試不了的樣品，通過(guò)調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測(cè)，改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度。
超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202
超聲粒度及Zeta電位分析儀
提供所有單臺(tái)儀器測(cè)量粒度分布, zeta電位和流變性質(zhì)(選件)的可能性 在一個(gè)樣品池中可以同時(shí)測(cè)量粒度分布和zeta電位 可以選擇附加各種探頭式測(cè)量傳感器, 包括溫度、pH值、電導(dǎo)率、和流變性質(zhì)測(cè)量，以及非水系統(tǒng)選項(xiàng)和軟件控制的自動(dòng)滴定系統(tǒng) 所有探頭均可同時(shí)操作 統(tǒng)一的數(shù)據(jù)管理 超聲粒度及Zeta電位分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時(shí)，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來(lái)測(cè)量顆粒粒度及濃度，采用多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測(cè)量。 傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理，既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò)，而多頻電聲技術(shù)則可避免這些問(wèn)題。超聲探頭（Zeta Probe）能直接在樣品的原始條件下測(cè)量zeta電位，允許樣品濃度高達(dá)50％（體積）。Zeta Probe 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到※佳分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠(chǎng)的優(yōu)化控制超聲粒度及Zeta電位分析儀參數(shù)規(guī)格： 1. 粒徑由超聲波( Acoustic)方式 , Zeta 電位由電聲波( Electro Acoustic)方式 2. 樣品無(wú)需稀釋直接測(cè)定,測(cè)量固體含量范圍:1% ～ 50% 3. 樣品※大測(cè)量攪拌濃度:10,000cps 4. 樣品測(cè)量電位范圍:+/- 300mV或以上 5. 聲波范圍: 500～3000m/s 6. 頻率范圍: 1 to 100 MHz , multiple gap 自動(dòng)掃描18個(gè)gap或以上 7. 粒徑測(cè)量: 5nm ～ 1000um 8. 可測(cè)量混合物之粒徑及Zeta電位 , 并可分析混合物之個(gè)別粒徑 9. 測(cè)量Zeta電位只需10ml或以下 10. 操作軟件功能: - 需在Windows XP下操作 - 粒徑分布圖及累計(jì)圖 - 粒徑分布數(shù)據(jù)表含D10 , D50 , D90 - 數(shù)據(jù)庫(kù)可在 Windows Access中由使用者自由選取 - 使用者可自由選取聲波速度及衰減圖 - 任何兩個(gè)參數(shù)的散射圖 - 用戶(hù)定義自動(dòng)選擇多數(shù)據(jù)系列Multiple data series automatically selected from user query 11.可選自動(dòng)酸堿與濃度滴定裝置 12.可選自動(dòng)測(cè)量粒徑及Zeta電位對(duì)pH變化 13.可以及時(shí)分析/顯示Zeta電位與等電點(diǎn) 14.可及時(shí)測(cè)量/顯示樣品pH值,電導(dǎo)率,溫度 15.可選數(shù)據(jù)資料處理與顯示系統(tǒng): Pentium 4 –3.0GHz或以上, 512 MB RAM, 80 GB, 19” LCD , Windows XP及 Office軟件 ( or Lap computer
超聲粒度及Zeta電位分析儀DT-1202產(chǎn)品特點(diǎn)：1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴(lài)Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量 7.樣品的※高濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)需稀釋?zhuān)瑢?duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能產(chǎn)品相冊(cè)： 
DT-1200高濃度膠體顆粒度及Zeta電位分析儀
主要特點(diǎn)
1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴(lài)Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量 7.樣品的濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)需稀釋?zhuān)瑢?duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能
儀器介紹
高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀,測(cè)試: 粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等 此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠(chǎng)的優(yōu)化控制。 Dispersion Technology，Inc. 產(chǎn)品： 應(yīng)用于： DT-1200聲波和電聲波測(cè)量?jī)x 實(shí)驗(yàn)室中粒徑和Zeta電位及滴定、pH值測(cè)量 DT-100聲波測(cè)量?jī)x 實(shí)驗(yàn)室中粒徑分析儀 DT-300Zeta電位探頭 實(shí)驗(yàn)室中Zeta電位分析 DT-400自動(dòng)膠體滴定 滴定、pH值、表面活性、鹽度等 分析軟件 膠體科學(xué)領(lǐng)域的理論 典型應(yīng)用領(lǐng)域： Aggregative Stability, 水泥漿, 陶瓷, 化學(xué)機(jī)械研磨, 煤漿, 涂料, 化妝品, 環(huán)境保護(hù)浮選法礦物富集, 食品工業(yè), 乳膠, 微乳, 混合分散體系, 納米粉, 無(wú)水體系, 油漆成像材料. 測(cè)量參數(shù)： 粒子/液體的密度、液體的粘度、粒子的重量百分比、介電常數(shù)等參數(shù)。 優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)： 1、被測(cè)樣品無(wú)需稀釋 2、排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 3、不需定標(biāo) 4、能分析多種分散物的混合體 5、高精度 6、所檢測(cè)粒徑范圍款從５nm至 1000um 優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)： 1、無(wú)需定標(biāo) 2、能測(cè)更寬的粒徑范圍 3、無(wú)需依賴(lài)Double Layer 模式 4、不需依賴(lài)（electric surface properties）電表面特性 5、Zero surface charge條件下也可測(cè)量粒徑 6、可適用于無(wú)水體系 7、可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)： 1、無(wú)需稀釋?zhuān)毯扛哌_(dá)50% 2、可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 3、高精度（±0.1mv） 4、low surface charges (可低至0.1mv) 5、electrosmotic flow 不影響測(cè)量 6、對(duì)流（convection）不影響測(cè)量 7、可精確測(cè)量無(wú)水體系
顆粒度及Zeta電位分析儀
我們的粒度和Zeta電位分析儀器, 采用專(zhuān)利技術(shù)---多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)50％（體積）濃度的樣品，無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測(cè)量。傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理，既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò)，而專(zhuān)利的多頻電聲技術(shù)則可避免這些問(wèn)題。Zeta Probe 能直接在樣品的原始條件下測(cè)量zeta電位，允許樣品濃度高達(dá)50％（體積）。Zeta Probe結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊，外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn)，可快速得到分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用，通用性強(qiáng)，非常適用于科研及工廠(chǎng)的優(yōu)化控制。
產(chǎn)品特性1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴(lài)Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電（highly conducting）體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量7.樣品的濃度可達(dá)50％（體積比）,被測(cè)樣品無(wú)需稀釋?zhuān)瑢?duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能
產(chǎn)品規(guī)格1.所檢測(cè)粒徑范圍款從５nm至 1000um 
2.可測(cè)量Zeta電位、超聲波頻率、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減、聲速、電聲信號(hào)，動(dòng)態(tài)遷移率、等電點(diǎn)（IEP） 3.Zeta電位測(cè)量范圍：無(wú)限制, low surface charges (可低至0.1mv),高精度（±0.1mv） 4.Zero surface charge條件下也可測(cè)量粒徑 5.允許樣品濃度：0.1～50％（體積百分?jǐn)?shù)） 6.樣品體積：20-110ml（檢測(cè)粒徑），2-100ml（檢測(cè)Zeta電位）7.PH 范圍：0.5～13.5 8.電導(dǎo)率范圍：0.0001～10 S/m9.溫度范圍：< 50℃10.最大粘度：20，000厘泊11.電位滴定和體積滴定，滴定分辨率0.1μl
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