AN9635H現(xiàn)貨供應(yīng)交直流耐壓絕緣測試儀 廈門豪天供應(yīng)AN9635H
ZC7110程控交直流耐壓絕緣測試儀 ZC7120程控交直流耐壓絕緣測試儀
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| ZC7110、ZC7120程控交直流耐壓測試儀/絕緣測試儀 ■16×2大字符LCD顯示 ■線性、低失真正弦波輸出 ■5組程式設(shè)定，記憶功能 ■電壓緩升設(shè)定功能 ■特有電弧偵測功能，缺陷判別更為 | ■ZC7110具備交流耐壓測試功能 ■ZC7120具備交直流耐壓測試功能 ■ZC7112具備交流耐壓/絕緣測試功能 ■ZC7122具備交直流耐壓/絕緣測試功能 | |
AN9636H/ AN9635H交直流耐壓絕緣測試儀
| 技術(shù)參數(shù) | AN9636H 交流耐壓、直流耐壓、絕緣 | AN9635H 交流耐壓、直流耐壓、絕緣 | |||
| 交 流 耐 壓 測 試 | 輸出電壓設(shè)定和測量范圍 | 100V~5000V AC 1V/步 | |||
| 最大輸出電流 | 100mA | 40mA | |||
| 輸出電壓調(diào)整率 | ±（2%×設(shè)定值+5V） | ||||
| 輸出電壓分辨率及精度 | 10V ±（2%×設(shè)定值+5V） | ||||
| 輸出頻率范圍及精度 | 50Hz/60Hz ±100ppM | ||||
| 輸出波形 | 正弦波，純阻負載下，200V以上失真度優(yōu)于2%，100V~200V優(yōu)5% | ||||
| 擊穿電流報警上下限設(shè)定 | 上限0.00~99.99mA 0.01mA/步； 下限0.000~9.999mA 0.001mA/步 | 上限0.00~40.00 mA 0.01mA/步； 下限0.000~9.999mA 0.001mA/步 | |||
| 擊穿電流測量范圍 | 0.000~3.500mA / 3.50~99.99mA | 0.000~3.500mA / 3.50~40.00mA | |||
| 擊穿電流測量分辨率 | 0.001mA / 0.01mA | ||||
| 擊穿電流測量精度 | 0.2mA 以上優(yōu)于 ±（2%×讀數(shù)+3個字）； 0.2mA 以下優(yōu)于 ±（2%×讀數(shù)+10個字） | ||||
| 緩升時間設(shè)置范圍/分辨率 | 0.0~999.9ss 0.1s/步 | ||||
| 緩降時間設(shè)置范圍/分辨率 | 0.0~999.9 0.1s/步 | ||||
| 測試時間設(shè)置范圍/分辨率 | 0.5~999.9s 0.1s/步 | ||||
| 測線歸零 | 0~2.000mA,自動或手動消除空載時的偏差值 | ||||
| 直流耐壓測試 | 輸出電壓設(shè)定和測量范圍 | 100V~6000V DC 1V/步 | |||
| 最大輸出電流 | 10mA | ||||
| 輸出電壓調(diào)整率 | ±（2%×設(shè)定值+5V） | ||||
| 輸出電壓分辨率及精度 | 10V ±（2%×設(shè)定值+5V） | ||||
| 直流電壓紋波系數(shù) | ≤5%（在6kV,<1mA電流純阻性負載條件下測試） | ||||
| 擊穿電流報警上下限設(shè)定范圍 | 上限0~9999µA 1µA/步； 下限0.0~999.9µA 0.1µA/步 | ||||
| 直流緩升電流上限設(shè)定范圍 | 12mA ON或OFF可設(shè)置 | ||||
| 直流充電電流下限設(shè)定范圍 | 0.0~350.0µA | ||||
| 擊穿電流測量范圍 | 0.0~350.0µA / 300~3500µA / 3.00~9.99mA | ||||
| 擊穿電流測量分辨率 | 0.1µA / 1µA / 0.01mA | ||||
| 擊穿電流測量精度 | 0.0~350.0µA：±（2%×讀數(shù)+5個字）; 350.0~9999.0µA：±（2%×讀數(shù)+2個字） | ||||
| 緩升時間設(shè)定/測試時間范圍 | 0.0~999.9s/0.5~999.9s 0.1s/步 | ||||
| 測試歸零 | 0~200µA, 自動或手動消除空載時的偏差值 | ||||
| 絕緣電阻測試 | 輸出電壓設(shè)定和測量范圍 | 100~1000V DC 1V/步 | |||
| 輸出電壓分辨率及精度 | 1V ±（2%×設(shè)定值+5V） | ||||
| 直流紋波系數(shù) | ≤1%（在100V,<1mA電流純阻性負載條件下測試） | ||||
| 輸出電壓調(diào)整率 | ±（2%×設(shè)定值+5V） | ||||
| 測試時間設(shè)定范圍 | 0.5~999.9s 0.1s/步 | ||||
| 絕緣電阻下限設(shè)置范圍 | 1~9999MΩ | ||||
| 絕緣電阻上限設(shè)置范圍 | 0~9999MΩ | ||||
| 充電電流下限設(shè)置范圍 | 0.000~3.500µA | ||||
| 絕緣電阻測量范圍 | 1~9999MΩ，自動換檔 | 1~2000MΩ，自動換檔 | |||
| 絕緣電阻測量精度 | 500~1000V：±（2%×讀數(shù)+2個字） 1~200MΩ; ±（5%×讀數(shù)+2個字） 200~1000M; ±（15%×讀數(shù)+2個字） 1000MΩ以上。 500V以下： ±（8%×讀數(shù)+2個字） 1~1000MΩ; ±（12%×讀數(shù)+2個字） 1000~2000MΩ。 | ||||
| 功能接口 | 開關(guān)量接口：啟動、停止信號輸入、調(diào)用1-8組，合格、報警、測試、故障信號輸出； 掃描口、RS232（RS485選配）和打印口 | ||||
| 外形尺寸W×H×D（mm） | 400×156×475 | ||||
| 配件名稱 | 型號 |
| 接地線 | AN000-03 |
| 測試線 | AN960-02 |
| 測試探棒 | AN960-01 |
HC系列儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/TSDC熱刺激極化電流/電聲脈沖法空間電荷測量
隨著能源需求的不斷增加以及對環(huán)境友好能源的需求，新型能源儲能材料的研究成為了當(dāng)前的熱門領(lǐng)域之一。在開發(fā)新一代的儲能新材料時，對其性能的測試與分析是至關(guān)重要的一環(huán)，儲能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)可以通過各功能測試模塊，系統(tǒng)的幫組科研人員從能量密度、功率密度、循環(huán)壽命、安全性四個方面對新材料性能進行分析檢測，評估材料的性能指標(biāo)，判斷是否符合應(yīng)用要求。
系統(tǒng)配置
01.電壓擊穿（介電場強）
由能量密度可知，擊穿場強相對于介電常數(shù)對于材料能量密度的影響更為突出，獲得高能量密度對復(fù)合材料擊穿場強提出了更高的要求。
通過上位機系統(tǒng)控制高壓擊穿測試模塊，可以安全、便捷、準(zhǔn)確的對測試樣品進行工頻下的交流、高壓直流擊穿試驗，測試出擊穿場強。甚至可以通過測試軟件設(shè)置直流輸出時間，以完成樣品的極化過程。
02.高低頻介電頻譜、溫譜
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境下儲能新材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。
03.高溫絕緣電阻
高精度的電壓輸出與電流測量，即使在高低溫環(huán)境下可能很好的屏蔽背景電流，保障測試品質(zhì)，適用與儲能新材料在不同環(huán)境溫度下絕緣性能的檢測。
04.熱釋電測試
不論是薄膜還是塊體形式的儲能材料，都可對其進行熱釋電性能測試。采用電流法進行測量，材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。
05.TSDC熱刺激極化電流
熱刺激電流（TSC）是研究熱釋電材料中陷阱結(jié)構(gòu)和陷阱結(jié)構(gòu)所控制的空間電荷存貯及運輸特性的工具，同時也是研究熱點材料結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變和分子運動的重要手段。諸如：分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等，通過TSDC技術(shù)也可以直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)介電特性、
06.充放電儲能密度測試
用于研究介電儲能材料高電壓放電性能，同目前常見的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質(zhì)能量密度，測試時，樣品的電荷釋放至高壓源上，而非釋放至負載上，也就是說，通過電滯回線測得的能量密度會大與樣品實際釋放的能量密度，不能正確評估儲能材料的正常放電性能。華測充放電測試具有專門設(shè)計的電容放電電路來測量，首先將測試材料充電到給定電壓，之后通過閉合高速MOS高壓開關(guān)，將存儲在儲能材料中的能量釋放到電阻器負載中，更符合電介質(zhì)充放電原理。
07.電聲脈沖法空間電荷測量
空間電荷是指在材料特定區(qū)域內(nèi)電荷分布不均勻的現(xiàn)象。該現(xiàn)象是由于載流子的擴散和漂移運動所導(dǎo)致的，在材料的局部區(qū)域產(chǎn)生了電荷累積，從而使材料改變了原本的電中性狀態(tài)？臻g電荷的存在對材料的電學(xué)性能有著重要的影響，可能導(dǎo)致電場畸變、絕緣性能下降等問題。
電聲脈沖法（PEA）空間電荷測試可以便捷準(zhǔn)確地測量固體儲能材料內(nèi)部空間電荷分布,電聲脈沖法可以測量較厚的介質(zhì)，可以在帶電狀態(tài)下直接測量絕緣測試樣品中的空間電荷分布，最小可測空間電荷密度為4μC·cm-3,最小可測試樣厚度為0.2mm。
08.靜電電壓
靜電是一種處于靜止?fàn)顟B(tài)的電荷，雖然其總電荷量不大，但其瞬間釋放所產(chǎn)生的高電壓與大電流非常容易對周邊電路、設(shè)備乃至人員造成損害。對儲能材料的靜電性能（包括面電荷密度與電阻）進行測試，可以對后期防靜電工程設(shè)計和改善儲能系統(tǒng)的抗靜電性能設(shè)計提供數(shù)據(jù)支持，對周圍電路的靜電敏感電子元器件選型提供參考依據(jù)。
配置模塊功能 | 測試儀表 | 測試環(huán)境配件/夾具 | ||
電壓擊穿（介電場強） | 高壓電源 | 變溫油浴槽 溫度范圍：RT~250℃（視絕緣介質(zhì)性能） | ||
高低頻介電溫譜 | 阻抗分析儀 | 高低溫冷熱臺 溫度范圍：-185℃~600℃ | 高溫近紅外爐 溫度范圍：RT~1450℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃ |
高溫絕緣電阻測試 | 高阻計/源表 | 高低溫冷熱臺 溫度范圍：-185℃~600℃ | 高溫近紅外爐 溫度范圍：RT~1450℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃ |
熱釋電測試 | 高阻計/靜電計 | 高低溫冷熱臺 溫度范圍：-185℃~600℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃ |
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TSDC熱刺激電流測試 | 高阻計/靜電計 | 高低溫冷熱臺 溫度范圍：-185℃~600℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃ |
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充放電儲能密度測試 | 充放電測試模塊 | 變溫測試盒 溫度范圍：RT~250℃（視絕緣介質(zhì)性能） | ||
靜電電壓 | 高阻計/靜電計 | 靜電變溫測試罐 溫度范圍： | ||
空間電荷測試 | 示波器+高壓電源+功率放大器 | 電聲脈沖法空間電荷測試夾具 | ||
（各測試夾具圖片）
拓展資料能量密度常用計算公式：
式中：Uc為電容器的充電能量密度；Ud為電容器的實際放電能量密度；E為外加電場；D為電位移；Dmax為最大電位移；Dr為剩余電位移；ε0為電介質(zhì)的真空介電常數(shù)；εr為電介質(zhì)的相對介電常數(shù)；Eb為擊穿場強；η為充放電效率。