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表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家

發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀出租
轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀是判斷發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組有無匝間短路的用儀器,可以全自動(dòng)、手動(dòng)(單向或雙向)測(cè)量轉(zhuǎn)子繞組的電壓、電流、阻抗、功率、相位角等參數(shù)。
更新時(shí)間:2025-10-23
Loesta AX 低電阻率計(jì)
loesta ax 低電阻率計(jì)是一種手持儀器,測(cè)量具有一致精度樣品的低電阻率。該電阻率計(jì)使用各種探頭測(cè)量電阻率。loesta ax使用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的rcf,如果已知的話,用戶也可以輸入其他rcf。它通常用于產(chǎn)品工程和質(zhì)量控制。應(yīng)用域包括導(dǎo)電涂料、導(dǎo)電塑料、導(dǎo)電橡膠、導(dǎo)電薄膜、抗靜電材料、emi屏蔽材料、導(dǎo)電纖維、導(dǎo)電陶瓷等。
更新時(shí)間:2025-10-21
防靜電阻抗儀
該儀器為一臺(tái)便攜式電阻儀,規(guī)格為103歐姆/米2~1012歐姆/米 2 ,精確度為±101/2。它主要用于測(cè)量表面電阻接地電阻。在測(cè)量表面電阻的時(shí)候,只要把儀器放在測(cè)量物表面,按下紅色測(cè)試按鈕就可以了。隨后儀器便會(huì)亮起103歐姆/米2 ~1012歐姆/米2范圍內(nèi)相應(yīng)的燈或緣顯示。在測(cè)量接地電阻的時(shí)候,重復(fù)上述過程,同時(shí)將接地插頭插入連接接地點(diǎn)的插座中即可。
更新時(shí)間:2025-10-21
沾水度測(cè)定儀 抗?jié)裥哉此葴y(cè)定儀 織物表面抗?jié)裥詼y(cè)定儀
本儀器用于測(cè)定各種已經(jīng)或未經(jīng)抗水或拒水整理織物表面的抗?jié)裥裕ㄕ此燃?jí))。gb/t4745-1997 《紡織織物 表面抗?jié)裥詼y(cè)定 沾水試驗(yàn)》
更新時(shí)間:2025-10-21
阻抗測(cè)量?jī)x器 高壓電橋價(jià)格 電纜損耗測(cè)定儀廠家
測(cè)量電纜、固體、液體緣材料的電容值和介質(zhì)損耗值。
更新時(shí)間:2025-10-21
便攜式交流阻抗測(cè)試儀 交流阻抗測(cè)試儀
dt304-353便攜式阻抗測(cè)試儀具有易于攜帶、操作簡(jiǎn)便、測(cè)量迅速、顯示結(jié)果直觀等特點(diǎn)。供電采用直流供電,內(nèi)置充電電池,用于現(xiàn)場(chǎng)無電源情況下使用,滿電狀態(tài)下可以連續(xù)測(cè)量10小時(shí)。
更新時(shí)間:2025-10-21
便攜式電阻儀 表面電阻測(cè)試儀
便攜式電阻儀 表面電阻測(cè)試儀該儀器為一臺(tái)便攜式電阻儀,規(guī)格為103 歐姆/米2 ~1012 歐姆/米2 ,精確度為±101/2。它主要用于測(cè)量表面電阻接地電阻。
更新時(shí)間:2025-10-21
干擾測(cè)量阻抗匹配器 干擾測(cè)量阻抗匹配儀 干擾測(cè)量阻抗匹分析儀
干擾測(cè)量阻抗匹配器 干擾測(cè)量阻抗匹配儀 干擾測(cè)量阻抗匹分析儀dt307-zn28200干擾測(cè)量阻抗匹配器專門用于高壓電器設(shè)備無線電干擾測(cè)量,在進(jìn)行測(cè)量試驗(yàn)時(shí)
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置IM7587阻抗分析儀廠家
日本日置im7587阻抗分析儀廠家,北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)及銷售紅外線測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置IM7585阻抗分析儀廠家
日本日置im7585阻抗分析儀廠家,北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)及銷售紅外線測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置IM7583阻抗分析儀廠家
日本日置im7583阻抗分析儀廠家,北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)及銷售紅外線測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置IM7581阻抗分析儀廠家
日本日置im7581阻抗分析儀廠家,北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)及銷售紅外線測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置IM7580A阻抗分析儀廠家
日本日置im7580a阻抗分析儀廠家,北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)及銷售紅外線測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置IM3590化學(xué)阻抗分析儀廠家
日本日置im3590化學(xué)阻抗分析儀廠家,北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)及銷售紅外線測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
日本日置IM3570阻抗分析儀廠家
日本日置im3570阻抗分析儀廠家,北京美特邇環(huán)保儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)及銷售紅外線測(cè)溫儀、涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、氣體檢測(cè)儀、紅外熱像儀、風(fēng)速儀、照度計(jì)、噪音計(jì)、溫濕度記錄儀、測(cè)振儀、硬度計(jì)、張力儀、數(shù)字萬用表、鉗型表、超聲波流量計(jì)、酒精檢測(cè)儀等等....
更新時(shí)間:2025-10-21
高溫四探針電阻率測(cè)試儀
高溫四探針電阻率測(cè)試儀功能介紹:液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:
更新時(shí)間:2025-10-21
四探針方阻電阻率測(cè)試儀
四探針方阻電阻率測(cè)試儀,使用方便;配備軟件電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
更新時(shí)間:2025-10-21
絕緣材料高溫表面電阻測(cè)試儀
ft-353絕緣材料高溫表面電阻測(cè)試儀適用范圍:適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
更新時(shí)間:2025-10-21
硅片高溫方阻測(cè)試儀
硅片高溫方阻測(cè)試儀 廣泛用于:生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ito)和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù) 硅片高溫方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-10-21
高溫四探針電阻率測(cè)試儀
浙江高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)廠家直銷 液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表; 浙江高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)廠家直銷
更新時(shí)間:2025-10-21
智能型直流低電阻測(cè)試儀
直流低電阻測(cè)試儀性能特點(diǎn):5位led顯示,穩(wěn)定性好。最小的分辨率:1μω直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分選及訊響功能提供rs-232c接口及handler接口(選配)
更新時(shí)間:2025-10-21
智能粉末電阻率測(cè)試儀
智能粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.使用薄膜按鍵開關(guān)面板,操作簡(jiǎn)單,耐用,符合人體工學(xué)操作規(guī)范
更新時(shí)間:2025-10-21
四探針電阻測(cè)試儀
四探針電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-10-21
寧波半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀
寧波半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀 按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-10-21
負(fù)極材料粉末電阻率測(cè)試儀
負(fù)極材料粉末電阻率測(cè)試儀 滿足:yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測(cè)方法 第6部分 粉末電阻率的測(cè)定;本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。
更新時(shí)間:2025-10-21
導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀
導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,實(shí)驗(yàn)室是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電阻率。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
多功能材料電阻率測(cè)試儀
多功能材料電阻率測(cè)試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,實(shí)驗(yàn)室是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電阻率。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置
更新時(shí)間:2025-10-21
通用型粉末電阻率測(cè)試儀
通用型粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.使用薄膜按鍵開關(guān)面板,操作簡(jiǎn)單,耐用,符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
更新時(shí)間:2025-10-21
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn):gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》;en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》;gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》(與國際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效);fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時(shí)間:2025-10-21
導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀
導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀廣泛用于:生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量.同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.
更新時(shí)間:2025-10-21
材料低電阻率測(cè)試儀
材料低電阻率測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn): gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時(shí)間:2025-10-21
雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀
雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
四探針方阻儀
四探針方阻儀按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn),本機(jī)配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時(shí)間:2025-10-21
方塊電阻測(cè)試儀
方塊電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn).
更新時(shí)間:2025-10-21
薄膜方阻測(cè)試儀
薄膜方阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國際標(biāo)準(zhǔn)(astm f84)及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-10-21
數(shù)字式四探針測(cè)試儀
數(shù)字式四探針測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-10-21
自動(dòng)導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀
自動(dòng)導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀采用一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),將粉末比電阻的測(cè)量與粉體電阻率/電導(dǎo)率分析為一體,測(cè)量與數(shù)據(jù)分析通過pc軟件完成,粉體壓強(qiáng)與電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值的變化關(guān)系
更新時(shí)間:2025-10-21
雙電測(cè)電四探針電阻率測(cè)試儀
雙電測(cè)電四探針電阻率測(cè)試儀本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
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薄膜電阻率測(cè)試儀
薄膜電阻率測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
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薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀
薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
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導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀
導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.
更新時(shí)間:2025-10-21
端子電壓降測(cè)試儀
端子電壓降測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn):qc/t 730-2005 ;iso 6722:2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時(shí)滿足德國、法國、韓國、日本、等國家標(biāo)準(zhǔn)要求和測(cè)試規(guī)范,電壓降實(shí)驗(yàn)按qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn)5.7進(jìn)行實(shí)驗(yàn) qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn).
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經(jīng)濟(jì)型表面電阻和體積電阻測(cè)試儀
經(jīng)濟(jì)型表面電阻和體積電阻測(cè)試儀 適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
更新時(shí)間:2025-10-21
炭素材料電阻率測(cè)試儀
ft-310炭素材料電阻率測(cè)試儀四端測(cè)試法測(cè)量碳素材料,石墨等塊狀棒狀及粉末材料常溫下高導(dǎo)電性能。該儀器采用高精度恒流恒壓源,自動(dòng)顯示電流和電壓并根據(jù)測(cè)試產(chǎn)品特性自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)試量程,無需手動(dòng)調(diào)節(jié)和設(shè)定。4.3吋液晶屏幕顯示,自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率等數(shù)據(jù),選配:如配備軟件可,通過軟件操控儀器工作,并獲得測(cè)試數(shù)據(jù)之圖表和測(cè)試結(jié)果。根據(jù)產(chǎn)品形狀不同可以選配測(cè)試治具.
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金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程
金屬薄膜四探針電阻率測(cè)試儀驗(yàn)證流程,適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料.
更新時(shí)間:2025-10-21
絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法
絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法,絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如(長(zhǎng)方體,圓柱體等是固有形狀)及不規(guī)則狀態(tài)(如粉末狀,膏體狀,液態(tài)流動(dòng)狀),目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體,而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少,本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外,還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)。
更新時(shí)間:2025-10-21
糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)
糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù),功能介紹:本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試
更新時(shí)間:2025-10-21
石墨粉電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè)
石墨粉電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè),功能介紹:本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治
更新時(shí)間:2025-10-21
鋰電池粉末電阻率測(cè)試儀廠家
粉末電阻率測(cè)試儀 本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試
更新時(shí)間:2025-10-21
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨,概況:(1)適用標(biāo)準(zhǔn):gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》;en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》
更新時(shí)間:2025-10-21

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