掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-08-22
日立高新推出的掃描電鏡su3800/su3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可高效發(fā)揮其高性能。su3900標配多功能超大樣品倉，可應對大型樣品的觀察。
更新時間:2025-08-22
臺式掃描電子顯微鏡(sem)全新升。我們以“更高畫質、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出tm4000系列。在此基礎上，我們又推出功能更為多樣的tm4000ⅱ系列。為您提供全新的觀察和分析應用。
更新時間:2025-08-22
寬幅僅為45 cm的緊湊型的設計，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。全新開發(fā)的用戶界面和電子光學系統(tǒng)讓您深切體驗其高性能。
更新時間:2025-08-22
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-08-22
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-08-22
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-08-22
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-08-22
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-08-22
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-08-22
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-08-22
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-08-22
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-08-22
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-08-22
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-08-22
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-08-22
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優(yōu)勢，采用專利保護的雙光路設計，完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-08-22
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-08-22
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-08-22
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-08-22
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設定。
更新時間:2025-08-22
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的完美結合
更新時間:2025-08-22
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-08-22
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-08-22
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-08-22
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-08-22
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-08-22
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-08-22
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-08-22
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設備;工業(yè)計算機斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內部結構的體積。蔡司是快速ct的先驅，并且能夠在生產(chǎn)周期中對組件進行完整的以體積為基礎的檢查。
更新時間:2025-08-21
gaia3 model 2016是一款可以挑戰(zhàn)納米設計應用的理想平臺，它同時具備極佳的精度和微量分析的能力。gaia3 model 2016擅長的一些應用包括制備高質量的超薄tem樣品，在技術節(jié)點減少層級的過程，精確的納米構圖或高分辨率的三維重建。
更新時間:2025-08-21
tescan集成式礦物分析儀（tima）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。tima可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
更新時間:2025-08-21
tima3 lmu/lmh feg是一款基于場發(fā)射掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應用。
更新時間:2025-08-21
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。
更新時間:2025-08-21
vela 3 xmu/xmh是tescan最新推出的一款聚焦離子束掃描電鏡,以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的系列產(chǎn)品.具有使用方便,產(chǎn)品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計。
更新時間:2025-08-21
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。
更新時間:2025-08-21
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了最新的技術優(yōu)勢，包括改進的高性能電子設備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術的超快掃描系統(tǒng)，內置的編程軟件等，使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價比。
更新時間:2025-08-21
基于高分辨率肖特基feg-sem鏡筒和高性能聚焦離子束鏡筒，lyra3 fib-sem是一款sem與fib良好結合的一體化系統(tǒng)，能夠滿足高要求客戶的需要。
更新時間:2025-08-21
tescan綜合礦物分析儀（tima）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。tima可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
更新時間:2025-08-21
tescan集成式礦物分析儀（tima）是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。tima可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
更新時間:2025-08-21
rise電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)是一款新穎的顯微鏡技術，在一個集成的顯微鏡系統(tǒng)中結合了共焦拉曼成像和掃描電子顯微鏡技術，這種獨特的組合為顯微鏡用戶對樣品進行綜合表征，提供了明顯的優(yōu)勢。
更新時間:2025-08-21
世界首個完全集成式xe等離子源聚焦離子束掃描電子顯微鏡----fera3，提供了超高離子束束流（最高束流為2μa），其濺射速度比ga離子源高50多倍。對于目前浪費時間或不可能進行的需要刻蝕的材料，fera3型儀器是一個不錯的選擇。
更新時間:2025-08-21
新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡（lyra3）給用戶帶來了新的技術優(yōu)點，包括改進的高性能電子設備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術的超快掃描系統(tǒng)，內置的編程軟件等，都使lyra3保持著很高的性價比。
更新時間:2025-08-21
vega3 indusem是一款可移動的掃描電鏡，可完全滿足工業(yè)生產(chǎn)線上隨時移動、隨時檢測的要求，并以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎.具有使用方便,產(chǎn)品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計.
更新時間:2025-08-21
vega 3 xmu/xmh是一款以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的產(chǎn)品.具有使用方便,產(chǎn)品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計.
更新時間:2025-08-21
vega 3 easyprobe可分為高真空型和可變真空型，其運用的領域非常廣泛，適合各類高等院；蚬具x擇。easyprobe是sem/eds一體化機型，實現(xiàn)了one-touch式的操作，使得操作非常簡單，甚至沒有經(jīng)驗的人員也可以在一天內學會操作。
更新時間:2025-08-21
最新產(chǎn)品
- FST鑷子11019-12 2025/8/23 14:39:37
- FST鑷子11018-12 2025/8/23 14:37:37
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- FST鑷子11101-09 2025/8/23 14:27:35
- FST鑷子11073-10 2025/8/23 14:25:32
- 在線PH計 高低位報警 數(shù)字顯示 自來水廠 2025/8/23 14:20:57
- FST鑷子11074-02 2025/8/23 14:23:32
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- FST鑷子11700-04 2025/8/23 14:17:28
- 島津LC30針座密封圈228-52253 2025/8/23 14:11:40
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