掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
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更新時(shí)間:2025-06-22
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上海到紹興搬家2019直達(dá)專線 上海本耐物流主要經(jīng)營上海至紹興公路、鐵路、往返貨物運(yùn)輸業(yè)務(wù)，，同時(shí)提供超貨物包裝及現(xiàn)化倉儲、物流服務(wù)。本耐物流中心上海本耐物流中心是經(jīng)上海市，主要經(jīng)營上海到紹興中小城市公路、零擔(dān)貨物運(yùn)輸，集倉儲包裝、。
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本公司為您提供：sema域4（sema4d）抗體，公司主營菌種，細(xì)胞，抗體，試劑，耗材，實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備等，更多信息請咨詢在線客服：13817240771
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sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2025-06-21
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2025-06-21
fei quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（esem™）和兩個dualbeam™系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個樣品和工業(yè)過程控制實(shí)驗(yàn)室，材料科
更新時(shí)間:2025-06-21
fei nova nano sem 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)行超高分辨表征的低真空場發(fā)射掃描電子顯微
更新時(shí)間:2025-06-21
fei inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需求而設(shè)計(jì)，配備高穩(wěn)定分辨率平臺，可滿足大
更新時(shí)間:2025-06-21
fei verios xhr sem 掃描電子顯微鏡是 fei *的 xhr（*分辨率）sem 系列的第二代產(chǎn)品。在*半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 30 kv 范圍內(nèi)提供亞納米量級分辨率
更新時(shí)間:2025-06-21
蔡司 gemini sem場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的gemini技術(shù)，geminisem具有完整高效的檢測系統(tǒng)、*的分辨率以及簡便的操作方式。gemini物鏡設(shè)計(jì)將靜電場與磁場結(jié)合
更新時(shí)間:2025-06-21
蔡司 sigma高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的gemini光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過0.8nm，為您提供zui高分辨率和*分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于*的eds幾何學(xué)設(shè)計(jì)使您可
更新時(shí)間:2025-06-21
蔡司 evo ma鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時(shí)代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動化的5軸樣品臺和大的x、y、z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢
更新時(shí)間:2025-06-21
fei sem apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生*的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低
更新時(shí)間:2025-06-21
fei magellantm系列掃描電子顯微鏡界： 高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達(dá)到一納米以下。 這款電鏡上的一些重要突破在于它鏡筒上采用了革命性的單色槍技術(shù),它使顯微學(xué)家
更新時(shí)間:2025-06-21
?titan etem g2 是我們專用的環(huán)境 tem 平臺，設(shè)計(jì)用來觀測功能性納米材料及其隨著時(shí)間的推移對氣體和溫度刺激的響應(yīng)。憑借du一無二的差動泵目鏡，標(biāo)本區(qū)可變身為實(shí)驗(yàn)室，展開對催化劑微粒、納米器件和其他材料的研究，進(jìn)而在原子級別洞察表面和界面形態(tài)及相互作用。在需要時(shí)，titan etem 還可作為標(biāo)準(zhǔn) s/tem 開展原子級別成像。- 化學(xué)成分和價(jià)鍵狀態(tài)研究
更新時(shí)間:2025-06-21
apreo 復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。apreo 受益于獨(dú)特的透鏡內(nèi)背散射探測，這種探測提供卓越的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時(shí)也不例外。新型復(fù)合透鏡通過能量過濾進(jìn)一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾。可選低真空模式，現(xiàn)在的zui大樣品倉壓力為 500 pa，可以對要求zui嚴(yán)苛的絕緣體進(jìn)行成像。通過這些優(yōu)勢（包括復(fù)合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理），apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對未來的研究難題。
更新時(shí)間:2025-06-21
fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業(yè)ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學(xué)表征功能。talos f200x 可在所有維度 (1d-4d) 下實(shí)現(xiàn)zui快速、zui精確的 eds 分析，以及zui好且支持快速導(dǎo)航的動態(tài)顯微鏡 hrtem 成像。fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業(yè)ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds)。talos f200s 在 stem 成像上具有極大的多功能性和極高的通量。它可以為動態(tài)顯微鏡實(shí)現(xiàn)zui精確的 eds 分析和zui好的 hrtem。與此同時(shí)，fei talos f200s 還提供zui高的穩(wěn)定性和最長的正常運(yùn)行時(shí)間。
更新時(shí)間:2025-06-21
要特點(diǎn)：1.fei esem(環(huán)境掃描電鏡)技術(shù), 可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種樣品進(jìn)行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。3.先進(jìn)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)平臺，全數(shù)字化系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2025-06-21
verios xhr semverios 是 fei ling先的 xhr（極高分辨率）sem 系列的第二代產(chǎn)品。在jian端半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 30 kv 范圍內(nèi)提供亞納米量級分辨率以及增強(qiáng)的對比度，滿足材料精密測量所需，同時(shí)又不會削弱傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡 (sem) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優(yōu)勢。verios 的生命科學(xué)應(yīng)用觀測敏感的生物樣本時(shí)，
更新時(shí)間:2025-06-21
飛納高分辨率專業(yè)版 phenom pro 是飛納電鏡系列中最先進(jìn)的產(chǎn)品，第四代 phenom pro 放大倍數(shù)提升為 130,000 倍，分辨率優(yōu)于 14 nm，30 秒快速得到表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像，是目前世界上分辨率最高的臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；飛納高分辨率專業(yè)版 phenom pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設(shè)計(jì)等優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-06-21
蔡司公司最新推出的sigma 500/vp場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的gemini光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過0.8nm，為您提供最高分辨率和最佳分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于一流的eds幾何學(xué)設(shè)計(jì)使您可以獲取精湛的分析性能。借助sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。您會比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測器的選擇使sigma500/vp可以精準(zhǔn)的匹配您的應(yīng)用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層和多層的圖像信息！炯夹g(shù)參數(shù)】分辨率： 0.8nm @15 kv 1.6 nm @1kv
更新時(shí)間:2025-06-21
二十多年來，基于日漸完善的gemini技術(shù)，geminisem具有完整高效的檢測系統(tǒng)、極高的分辨率以及簡便的操作方式。gemini物鏡設(shè)計(jì)將靜電場與磁場結(jié)合，可在最大限度地提升光學(xué)性能的同時(shí)將場發(fā)射對樣品的損傷降至最低。此設(shè)計(jì)確保了極佳的成像質(zhì)量，即使是較具挑戰(zhàn)性的磁性材料也同樣可以達(dá)到良好的成像效果。通過二次電子和背散射電子的檢測也使得高效率的信號探測成為可能。探測器安裝在光軸上，可以減少調(diào)整時(shí)間，并可最大限度地降低成像時(shí)間。gemini電子束加速器技術(shù)確保了小的探針尺寸和高的信噪比，以達(dá)到超低的加速電壓！炯夹g(shù)參數(shù)】
更新時(shí)間:2025-06-21
nspecttm系列滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需求而設(shè)計(jì)，配備高穩(wěn)定分辨率平臺，可滿足大多數(shù)研究的需要。簡單易用的界面可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、快速的數(shù)據(jù)收集：將表面形貌和成分圖像與快速元素分析結(jié)合，確定材料特性及其化學(xué)元素組成。在眾多領(lǐng)域，高分辨率和高電流 feg 掃描電鏡的價(jià)值在于有助應(yīng)對生成高品質(zhì)圖像和實(shí)施快速分析的挑戰(zhàn)。
更新時(shí)間:2025-06-21
該產(chǎn)品是世界上di一款可以對有機(jī)材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進(jìn)行超高分辨表征的低真空場發(fā)射掃描電子顯微鏡（feg-sem）。作為fei公司引領(lǐng)市場的眾多設(shè)備中zui新的一員，nova nanosem為用戶在納米研究、開發(fā)與生產(chǎn)的相關(guān)工作提供了更多的可能。 nova nanosem的出現(xiàn)為那些非導(dǎo)電的以及有污染的納米材料研究和開發(fā)者們帶來了新的表征手段。與nanosem同時(shí)
更新時(shí)間:2025-06-21
全新的 magellan? 400 sem 是首款可在1-30 kv 電子能量范圍內(nèi)提供亞納米級分辨率的掃描電鏡，有效建立被稱為 xhr 掃描電鏡的全新性能類別。非凡的低加速電壓性能可提供其他技術(shù)根本無法實(shí)現(xiàn)的超高分辨率表面特定信息。在半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲市場，magellan 前所未有的性能可大幅擴(kuò)展 sem 的功能，提供基礎(chǔ)研究、流程和材料開發(fā)、流程控制以及故障分析所需的全面解決方案。它可實(shí)現(xiàn)快速高襯度成像，并具備大樣品或多樣品的亞納米級分辨率成像和全面分析
更新時(shí)間:2025-06-21
日立高新掃描電子顯微鏡此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“sem map”，這個功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)直觀的視野移動。flexsem 1000 ii，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kv下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。
更新時(shí)間:2025-06-21
日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采
更新時(shí)間:2025-06-21
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。紫外臭氧清洗機(jī)常用于掃描
更新時(shí)間:2025-06-21
日立高新掃描電子顯微鏡flexsem 1000 i掃描電子顯微鏡可對材料的表面進(jìn)行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術(shù)、生命科學(xué)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。flexsem 1000
更新時(shí)間:2025-06-21
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000日本日立hitachi超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡regulus系列 的詳細(xì)介紹 沿用"su8200系列"的冷場發(fā)射電子槍*2 采用電子束在fla
更新時(shí)間:2025-06-21
日本東亞電波離子層析儀(離子色譜儀)本體裝置和數(shù)據(jù)處理裝置之間的通信，如導(dǎo)入lan的設(shè)施，可作遠(yuǎn)距操作。擁有優(yōu)越的擴(kuò)張性、如增設(shè)pump、檢出器等的單元，可對應(yīng)陰離子、陽離子2ch的同時(shí)分析。依抑制因子系統(tǒng)可
更新時(shí)間:2025-06-21
elisa kit for semaphorin 7a (sema7a)
更新時(shí)間:2025-06-21
elisa kit for semaphorin 4a (sema4a)
更新時(shí)間:2025-06-21
elisa kit for semaphorin 3c (sema3c)
更新時(shí)間:2025-06-21
elisa kit for semaphorin 7a (sema7a)
更新時(shí)間:2025-06-21
elisa kit for semaphorin 3f (sema3f)
更新時(shí)間:2025-06-21
elisa kit for semaphorin 3e (sema3e)
更新時(shí)間:2025-06-21
elisa kit for semaphorin 3a (sema3a)
更新時(shí)間:2025-06-21
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時(shí)間:2025-06-20
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時(shí)間:2025-06-20
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時(shí)間:2025-06-20
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測，能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
更新時(shí)間:2025-06-20
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
更新時(shí)間:2025-06-20
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強(qiáng)大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實(shí)現(xiàn)了sem影像觀察時(shí)實(shí)時(shí)的eds成份分析。
更新時(shí)間:2025-06-20
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