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掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

韓國賽可臺式掃描電鏡4500主要功能
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-06-20
韓國賽可臺式掃描電鏡4500
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-06-20
韓國SEC掃描電子顯微鏡
sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.
更新時間:2025-06-20
和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導(dǎo)體缺陷檢測儀
超聲掃描顯微鏡(sat)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備,主要利用高頻超聲波,對各類半導(dǎo)體器件、材料進行檢測,能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會對樣品造成損傷,不會影響樣品性能,可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2025-06-20
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
更新時間:2025-06-20
日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能,讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式,輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-06-20
供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-06-19
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-06-19
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-06-19
供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-06-19
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-06-19
供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口,可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-06-19
供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng),強大的自動化功能,操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-06-19
供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡,達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點: 1. 新型
更新時間:2025-06-19
轉(zhuǎn)盤式共聚焦掃描成像系統(tǒng)
cv1000采用了雙nipkow轉(zhuǎn)盤共聚焦掃描器,它可以將活細胞成像實驗中的光毒性和光漂白性降到低。在整個實驗期間,該系統(tǒng)的培養(yǎng)平臺可以保持實驗樣本(如柔弱的胚胎、ips/es細胞以及其它類型的細胞)的活性和溫度的恒定。
更新時間:2025-06-18
Phenom飛納臺式掃描電鏡(標準版)
phenom(飛納) g2 pure(飛納臺式掃描電鏡 標準版) 款性能和價格介于光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)大電鏡之間的經(jīng)濟型臺式掃描電鏡,可用于測量亞微米尺寸的樣品。phenom g2 pure 適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選,也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
更新時間:2025-06-18
Phenom飛納臺式掃描電鏡(能譜版)
phenom prox (飛納臺式掃描電鏡 能譜版)是phenom第三代產(chǎn)品,結(jié)合了表面成像功能和元素分析能譜eds功能,能譜儀 eds的可以準確的進行樣品表面元素的定性和定量分析。
更新時間:2025-06-18
Mini-SEM臺式掃描電鏡
nanoanalysis系統(tǒng)由evex mini-sem,mini-sem,qdd先進的探測器技術(shù)和nanoanalysis軟件組成。mini-sem是具有高清度,高放大率,高性能的臺式掃描電子顯微鏡。mini-sem結(jié)合了傳統(tǒng)sem的性能,但在大小,price和易操作方面超越了臺式顯微鏡。
更新時間:2025-06-18
超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡
sem5000x是一款超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡,其分辨率達到了突破性的0.6 nm@15 kv和1.0 nm@1 kv。高分辨物鏡設(shè)計、高壓隧道技術(shù)(supertunnel)以及鏡筒工藝升,實現(xiàn)了低電壓分辨率的進一步提升。全新設(shè)計的樣品倉,擴展接口增加至16個,快速換樣倉大支持8寸晶圓(大直徑208 mm),大擴展應(yīng)用范圍。高掃描模式和自動功能增強,帶來了更強的性能和更好的體驗。
更新時間:2025-06-18
聚焦離子束電子束雙束顯微鏡
db500擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒,是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(shù)(supertunnel)、低像差無漏磁物鏡設(shè)計,低電壓高分辨率成像,保證納米分析能力!俺杏啊彪x子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源,擁有高穩(wěn)定、高質(zhì)量的離子束流,保證納米加工能力。集成式的納米機械手、氣體注入器、電子物鏡防污染機構(gòu),擁有24個擴展口,配置全面,自主可控,擴展性強,為您打造全能納米分析和加
更新時間:2025-06-18
國儀量子高分辨率場發(fā)射掃描電鏡
國儀量子場發(fā)射掃描電鏡sem5000,可實現(xiàn)低電壓高分辨成像,磁性樣品也可適用,豐富的接口,滿足多樣的需求,精心設(shè)計的人機交互方便操作,快速上手
更新時間:2025-06-18
國儀量子高分辨低真空鎢燈絲掃描電鏡
sem3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的中盡情探索。
更新時間:2025-06-18
德Neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢,采用專利保護的雙光路設(shè)計,完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時,由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源(thz-tds),也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-06-17
太赫茲近場光學(xué)顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號空間分辨率
更新時間:2025-06-17
日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社(jeol) 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時將分辨率提高到新的限,全新設(shè)計的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成,而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-06-17
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時間:2025-06-17
德國KSI  型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-06-17
KSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達450mm,檢測時間短,也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2025-06-17
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2025-06-17
德國KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
更新時間:2025-06-17
德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
更新時間:2025-06-17
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ,是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航,可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果,smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設(shè)定視野到生成報告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時間:2025-06-17
日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis,冷卻保持時間長,有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機,實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測,并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析,超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-06-17
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-06-17
CAMECA工業(yè)三位原子探針EIKOS
更新時間:2025-06-13
SS-60系列掃描電子顯微鏡
ss-60系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間;放大倍率30 ~60,000 x,15nm分辨率;采用二次電子和背散電子雙重探測器;ss-60掃描電鏡具有強大軟件功能,操作簡單,易于維護;國產(chǎn)掃描電鏡,良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
更新時間:2025-06-13
SS-150系列掃描電鏡
ss-150系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間;放大倍率30~150,000 x ;5nm分辨率;采用二次電子和背散電子雙重探測器;通過選配eds可進行元素成份分析;ss-150系列掃描電鏡具有強大軟件功能,操作簡單,易于維護;國產(chǎn)掃描電鏡,良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
更新時間:2025-06-13
日本JEOL 掃描電子顯微鏡JSM-IT510 InTouchScope™
掃描電子顯微鏡 (sem) 不僅是開展科研工作所必不可少的工具,對于需要品控的制造工廠也是不可或缺的。 在這些場景中,用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 jsm-it510 新增的“簡單 sem”功能,用戶可將 sem 觀察所需的“手動重復(fù)操作交給它”,從而更高效、更輕松地完成 sem 觀察。
更新時間:2025-06-13
TESCAN--場發(fā)射掃描電鏡 MIRA
ui新一代的mira場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了zui新的技術(shù)優(yōu)點(如改進的高性能電子設(shè)備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補償,有內(nèi)置的編程軟件等),同時保持著zui高的性價比。mira3的設(shè)計適用于各種各樣的sem應(yīng)用及當今研究和產(chǎn)業(yè)的需求。大電子束流下的高分辨率有利于分析應(yīng)用,例如:ebsd、wdx等分析。mira3場發(fā)射掃描電鏡可配置lm、xm或gm三種樣品室。
更新時間:2025-06-13
鎢燈絲掃描電鏡 VEGA
vega系列的設(shè)計適合各種sem應(yīng)用及當今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展,tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了zui新的技術(shù)優(yōu)勢,包括改進的高性能電子設(shè)備使成像速度更快,包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術(shù)的超快掃描系統(tǒng),內(nèi)置的編程軟件等,使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價比。
更新時間:2025-06-13

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質(zhì) 生物試劑