掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家

SNE-3000MS韓國(guó)SEC掃描電子顯微鏡采購(gòu)價(jià)格

sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對(duì)工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.

更新時(shí)間:2025-06-20

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：元豐技術(shù)（東莞）有限公司

SNE-4500韓國(guó)賽可臺(tái)式掃描電鏡4500主要功能

table-sem (臺(tái)式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬(wàn)倍 2) top-view ccd 相機(jī) - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲(chǔ)存后再分析功能 4) b type : se (二

更新時(shí)間:2025-06-20

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：元豐技術(shù)（東莞）有限公司

SNE-4500韓國(guó)賽可臺(tái)式掃描電鏡4500

更新時(shí)間:2025-06-20

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：元豐技術(shù)（東莞）有限公司

SNE-3000MS韓國(guó)SEC掃描電子顯微鏡

sne-3000ms系列產(chǎn)品是針對(duì)工廠和實(shí)驗(yàn)室配置的一款高端掃描電鏡.

更新時(shí)間:2025-06-20

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：元豐技術(shù)（東莞）有限公司

S600和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)儀

超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無(wú)損檢測(cè)成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對(duì)各類(lèi)半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè)，能夠檢測(cè)出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過(guò)程中，不會(huì)對(duì)樣品造成損傷，不會(huì)影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。

更新時(shí)間:2025-06-20

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：惠州市華高儀器設(shè)備有限公司

JSM-IT800日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。

更新時(shí)間:2025-06-20

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：惠州市華高儀器設(shè)備有限公司

JCM-7000日本電子掃描電子顯微鏡

日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強(qiáng)大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無(wú)縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實(shí)現(xiàn)了sem影像觀察時(shí)實(shí)時(shí)的eds成份分析。

更新時(shí)間:2025-06-20

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：惠州市華高儀器設(shè)備有限公司

FlexSEM1000 II供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡

flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。

更新時(shí)間:2025-06-19

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉(cāng)，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。

更新時(shí)間:2025-06-19

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

更新時(shí)間:2025-06-19

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司吳江銷(xiāo)售中心

FlexSEM1000 II供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡

更新時(shí)間:2025-06-19

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

更新時(shí)間:2025-06-19

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

S-3700N供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡

s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時(shí)可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺(tái)可以?xún)A

更新時(shí)間:2025-06-19

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

S-3400N供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡

s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開(kāi)發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)大的自動(dòng)化功能，操作更簡(jiǎn)易。特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能，包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對(duì)中、自動(dòng)束流設(shè)定、自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對(duì)比度等。 2. 在3kv低加速電壓時(shí)

更新時(shí)間:2025-06-19

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

SU9000供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。特點(diǎn)： 1. 新型

更新時(shí)間:2025-06-19

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：蘇州佐藤精密儀器有限公司

CellVoyager CV1000轉(zhuǎn)盤(pán)式共聚焦掃描成像系統(tǒng)

cv1000采用了雙nipkow轉(zhuǎn)盤(pán)共聚焦掃描器，它可以將活細(xì)胞成像實(shí)驗(yàn)中的光毒性和光漂白性降到低。在整個(gè)實(shí)驗(yàn)期間，該系統(tǒng)的培養(yǎng)平臺(tái)可以保持實(shí)驗(yàn)樣本（如柔弱的胚胎、ips/es細(xì)胞以及其它類(lèi)型的細(xì)胞）的活性和溫度的恒定。

更新時(shí)間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

Phenom G2 purePhenom飛納臺(tái)式掃描電鏡（標(biāo)準(zhǔn)版）

phenom(飛納) g2 pure（飛納臺(tái)式掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)版）款性能和價(jià)格介于光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)大電鏡之間的經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式掃描電鏡，可用于測(cè)量亞微米尺寸的樣品。phenom g2 pure 適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無(wú)法滿足需求的客戶。

更新時(shí)間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

Phenom proXPhenom飛納臺(tái)式掃描電鏡（能譜版）

phenom prox （飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜版）是phenom第三代產(chǎn)品，結(jié)合了表面成像功能和元素分析能譜eds功能，能譜儀 eds的可以準(zhǔn)確的進(jìn)行樣品表面元素的定性和定量分析。

更新時(shí)間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

SX系列Mini-SEM臺(tái)式掃描電鏡

nanoanalysis系統(tǒng)由evex mini-sem，mini-sem，qdd先進(jìn)的探測(cè)器技術(shù)和nanoanalysis軟件組成。mini-sem是具有高清度，高放大率，高性能的臺(tái)式掃描電子顯微鏡。mini-sem結(jié)合了傳統(tǒng)sem的性能，但在大小，price和易操作方面超越了臺(tái)式顯微鏡。

更新時(shí)間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：上海非利加實(shí)業(yè)有限公司

SEM5000X超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

sem5000x是一款超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，其分辨率達(dá)到了突破性的0.6 nm@15 kv和1.0 nm@1 kv。高分辨物鏡設(shè)計(jì)、高壓隧道技術(shù)（supertunnel）以及鏡筒工藝升，實(shí)現(xiàn)了低電壓分辨率的進(jìn)一步提升。全新設(shè)計(jì)的樣品倉(cāng)，擴(kuò)展接口增加至16個(gè)，快速換樣倉(cāng)大支持8寸晶圓（大直徑208 mm），大擴(kuò)展應(yīng)用范圍。高掃描模式和自動(dòng)功能增強(qiáng)，帶來(lái)了更強(qiáng)的性能和更好的體驗(yàn)。

更新時(shí)間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：國(guó)儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

DB500聚焦離子束電子束雙束顯微鏡

db500擁有自主可控的場(chǎng)發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒，是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(shù)（supertunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，低電壓高分辨率成像，保證納米分析能力�！俺杏啊彪x子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源，擁有高穩(wěn)定、高質(zhì)量的離子束流，保證納米加工能力。集成式的納米機(jī)械手、氣體注入器、電子物鏡防污染機(jī)構(gòu)，擁有24個(gè)擴(kuò)展口，配置全面，自主可控，擴(kuò)展性強(qiáng)，為您打造全能納米分析和加

更新時(shí)間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：國(guó)儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

SEM5000國(guó)儀量子高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

國(guó)儀量子場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡sem5000，可實(shí)現(xiàn)低電壓高分辨成像，磁性樣品也可適用，豐富的接口，滿足多樣的需求，精心設(shè)計(jì)的人機(jī)交互方便操作，快速上手

更新時(shí)間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：國(guó)儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

SEM3200國(guó)儀量子高分辨低真空鎢燈絲掃描電鏡

sem3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯微成像的中盡情探索。

更新時(shí)間:2025-06-18

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：國(guó)儀量子技術(shù) （合肥）股份有限公司

HV-THz-neaSNOM德Neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡

德neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國(guó)neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì)，采用專(zhuān)利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì)，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測(cè)量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí)，由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測(cè)量。

更新時(shí)間:2025-06-17