亚洲视频福利,日本精品一区二区三区在线,日韩欧美在线视频一区二区,国产高清自产拍av在线,99久久99久久精品国产片果冻,国产视频手机在线,成人禁在线观看午夜亚洲

掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家

日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-08-22
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-08-22
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ,是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航,可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果,smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-08-22
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設定視野到生成報告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-08-22
日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時間:2025-08-22
德Neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優(yōu)勢,采用專利保護的雙光路設計,完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時,由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源(thz-tds),也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-08-22
太赫茲近場光學顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學顯微鏡 -30nm光學信號空間分辨率
更新時間:2025-08-22
日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會社(jeol) 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時將分辨率提高到新的限,全新設計的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成,而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-08-22
德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
更新時間:2025-08-22
德國KSI  型 全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-08-22
KSI 型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測,有了它,晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測,晶錠的尺寸可達450mm,檢測時間短,也不需要做其它設定。
更新時間:2025-08-22
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的完美結合
更新時間:2025-08-22
德國KSI  雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時使用2只換能器
更新時間:2025-08-22
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時間:2025-08-22
供應蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口,可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-08-22
供應蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng),強大的自動化功能,操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能,包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-08-22
供應日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡,達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點: 1. 新型
更新時間:2025-08-22
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-08-22
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-08-22
供應蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時具有低真空功能,可以直接觀察不導電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-08-22
供應蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時間:2025-08-22
蔡司電腦斷層掃描測量機2022動態(tài)已更新《采購/推薦》
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設備;工業(yè)計算機斷層掃描(ct)為您提供了quanxin的洞見,讓您可以快速采集所有內部結構的體積。蔡司是快速ct的先驅,并且能夠在生產(chǎn)周期中對組件進行完整的以體積為基礎的檢查。
更新時間:2025-08-21
Ga離子雙束掃描電鏡(FIB-SEM)
gaia3 model 2016是一款可以挑戰(zhàn)納米設計應用的理想平臺,它同時具備極佳的精度和微量分析的能力。gaia3 model 2016擅長的一些應用包括制備高質量的超薄tem樣品,在技術節(jié)點減少層級的過程,精確的納米構圖或高分辨率的三維重建。
更新時間:2025-08-21
綜合礦物分析儀
tescan集成式礦物分析儀(tima)是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡,適用于采礦和礦物加工行業(yè)。tima可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
更新時間:2025-08-21
集成礦物分析儀
tima3 lmu/lmh feg是一款基于場發(fā)射掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專家,適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應用。
更新時間:2025-08-21
超大樣品室鎢燈絲掃描電鏡(GM)
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展,tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。
更新時間:2025-08-21
聚焦離子束掃描電鏡
vela 3 xmu/xmh是tescan最新推出的一款聚焦離子束掃描電鏡,以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的系列產(chǎn)品.具有使用方便,產(chǎn)品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計。
更新時間:2025-08-21
鎢燈絲掃描電鏡(LM)
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展,tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。
更新時間:2025-08-21
泰思肯微型掃描電子顯微鏡Small Base
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展,tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了最新的技術優(yōu)勢,包括改進的高性能電子設備使成像速度更快,包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術的超快掃描系統(tǒng),內置的編程軟件等,使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價比。
更新時間:2025-08-21
TESCAN聚焦離子束雙束掃描電鏡LYRA3
基于高分辨率肖特基feg-sem鏡筒和高性能聚焦離子束鏡筒,lyra3 fib-sem是一款sem與fib良好結合的一體化系統(tǒng),能夠滿足高要求客戶的需要。
更新時間:2025-08-21
TESCAN大樣品倉礦物分析儀系統(tǒng)
tescan綜合礦物分析儀(tima)是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡,適用于采礦和礦物加工行業(yè)。tima可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
更新時間:2025-08-21
泰思肯集成礦物分析儀
tescan集成式礦物分析儀(tima)是一款新型的自動礦物分析的掃描電子顯微鏡,適用于采礦和礦物加工行業(yè)。tima可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進行自動礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
更新時間:2025-08-21
電鏡拉曼一體化顯微鏡
rise電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)是一款新穎的顯微鏡技術,在一個集成的顯微鏡系統(tǒng)中結合了共焦拉曼成像和掃描電子顯微鏡技術,這種獨特的組合為顯微鏡用戶對樣品進行綜合表征,提供了明顯的優(yōu)勢。
更新時間:2025-08-21
大樣品倉雙束電鏡 (FIB-SEM)
世界首個完全集成式xe等離子源聚焦離子束掃描電子顯微鏡----fera3,提供了超高離子束束流(最高束流為2μa),其濺射速度比ga離子源高50多倍。對于目前浪費時間或不可能進行的需要刻蝕的材料,fera3型儀器是一個不錯的選擇。
更新時間:2025-08-21
鎵等離子雙束FIB系統(tǒng)
新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡(lyra3)給用戶帶來了新的技術優(yōu)點,包括改進的高性能電子設備使成像速度更快,包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術的超快掃描系統(tǒng),內置的編程軟件等,都使lyra3保持著很高的性價比。
更新時間:2025-08-21
可移動/工業(yè)掃描電鏡
vega3 indusem是一款可移動的掃描電鏡,可完全滿足工業(yè)生產(chǎn)線上隨時移動、隨時檢測的要求,并以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎.具有使用方便,產(chǎn)品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計.
更新時間:2025-08-21
大樣品室鎢燈絲掃描電鏡(XM)
vega 3 xmu/xmh是一款以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的產(chǎn)品.具有使用方便,產(chǎn)品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計.
更新時間:2025-08-21
掃描電鏡能譜一體機
vega 3 easyprobe可分為高真空型和可變真空型,其運用的領域非常廣泛,適合各類高等院校或公司選擇。easyprobe是sem/eds一體化機型,實現(xiàn)了one-touch式的操作,使得操作非常簡單,甚至沒有經(jīng)驗的人員也可以在一天內學會操作。
更新時間:2025-08-21
泰思肯微型掃描電子顯微鏡Small Base
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展,tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了最新的技術優(yōu)勢,包括改進的高性能電子設備使成像速度更快,包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術的超快掃描系統(tǒng),內置的編程軟件等,使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價比
更新時間:2025-08-21
TESCAN VEGA3鎢燈絲掃描電鏡(LM)
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展,tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了最新的技術優(yōu)勢,包括改進的高性能電子設備使成像速度更快,包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術的超快掃描系統(tǒng),內置的編程軟件等,使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價比。
更新時間:2025-08-21
TESCAN VEGA3大樣品室鎢燈絲掃描電鏡(XM)
vega 3 xmu/xmh是一款以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的產(chǎn)品.具有使用方便,產(chǎn)品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計.
更新時間:2025-08-21
聚焦離子束掃描電鏡VELA3 XMU/XMH
vela 3 xmu/xmh是tescan最新推出的一款聚焦離子束掃描電鏡,以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎的系列產(chǎn)品.具有使用方便,產(chǎn)品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計。該型號樣品臺行程大,可承受最大樣品重量甚至可達10kg,是現(xiàn)有樣品臺可載重最大的掃描電子顯微鏡。使用于航空航天,汽車配件,發(fā)動機等事業(yè)單位和研究單位,其超大的樣品室和載重可為您帶來無可比擬的便捷,使得對一些不方便進行切割等處理的樣品的觀察成為可能。
更新時間:2025-08-21
TESCAN VEGA3超大樣品室鎢燈絲掃描電鏡(GM)
vega系列的設計適合各種sem應用及當今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展,tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了最新的技術優(yōu)勢,包括改進的高性能電子設備使成像速度更快,包含了靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補償技術的超快掃描系統(tǒng),內置的編程軟件等,使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價比。
更新時間:2025-08-21
可移動/工業(yè)掃描電鏡VEGA3 InduSEM
vega3 indusem是一款可移動的掃描電鏡,可完全滿足工業(yè)生產(chǎn)線上隨時移動、隨時檢測的要求,并以高品質,完全計算機控制,用戶友好界面為基礎.具有使用方便,產(chǎn)品質量穩(wěn)定,分析高效為特點的獨創(chuàng)設計. 1.獨有的四透鏡大視野光學(wide field optics™)和tescan特有可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設計,提供了多種工作模式和顯示模式。
更新時間:2025-08-21
TESCAN MIRA3場發(fā)射掃描電鏡(GMH/GMU)
最新一代的tescan mira場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了最新的技術優(yōu)點(如改進的高性能電子設備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補償,有內置的編程軟件等),同時保持著最高的性價比。
更新時間:2025-08-21
TESCAN MAIA3超高分辨場發(fā)射掃描電鏡(LM)
maia3 model 2016產(chǎn)品是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡,在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。maia3 model 2016在低電壓下也有極好的性能,尤其對電子束敏感的半導體器件樣品以及納米材料等都具有優(yōu)異的表面靈敏度及高空間分辨率。全新的maia3也非常適合研究不導電試樣如原始狀態(tài)的生物樣品。
更新時間:2025-08-21
TESCAN Ga離子雙束掃描電鏡(FIB-SEM)
gaia3 model 2016是一款可以挑戰(zhàn)納米設計應用的理想平臺,它同時具備極佳的精度和微量分析的能力。gaia3 model 2016擅長的一些應用包括制備高質量的超薄tem樣品,在技術節(jié)點減少層級的過程,精確的納米構圖或高分辨率的三維重建
更新時間:2025-08-21
TESCAN MIRA3場發(fā)射定制版掃描電鏡(AMU)
最新一代的tescan mira場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了最新的技術優(yōu)點(如改進的高性能電子設備使成像過程更快,快速掃描系統(tǒng)包括了動態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補償,有內置的編程軟件等),同時保持著最高的性價比。
更新時間:2025-08-21
TESCAN MAIA3超高分辨場發(fā)射掃描電鏡(XM)
maia3 model 2016產(chǎn)品是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡,在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。maia3 model 2016在低電壓下也有極好的性能,尤其對電子束敏感的半導體器件樣品以及納米材料等都具有優(yōu)異的表面靈敏度及高空間分辨率。全新的maia3也非常適合研究不導電試樣如原始狀態(tài)的生物樣品。
更新時間:2025-08-21
TESCAN 高分辨率三維 X 射線 CT 顯微鏡
tescan unitom 是一款靈活的高分辨率 x 射線 ct 系統(tǒng),可針對特定應用量身定制,以最大限度地提高圖像質量和分辨率。可提供不同配置,從單一來源檢測器配置到具有多個 x 射線源和檢測器的更靈活的系統(tǒng)
更新時間:2025-08-21

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑