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掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家

日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時(shí)間:2025-08-22
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:2025-08-22
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時(shí)間:2025-08-22
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時(shí)間:2025-08-22
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:2025-08-22
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:2025-08-22
日本JEOL熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時(shí)間:2025-08-22
德Neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢，采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì)，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí)，由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測量。
更新時(shí)間:2025-08-22
太赫茲近場光學(xué)顯微鏡
thz-neasnom太赫茲近場光學(xué)顯微鏡 -30nm光學(xué)信號(hào)空間分辨率
更新時(shí)間:2025-08-22
日本電子JEOL場發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時(shí)將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時(shí)間:2025-08-22
德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時(shí)間:2025-08-22
德國KSI 型 全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
更新時(shí)間:2025-08-22
KSI 型全自動(dòng)晶錠分析檢測系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測時(shí)間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時(shí)間:2025-08-22
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時(shí)間:2025-08-22
德國KSI 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，同時(shí)使用2只換能器
更新時(shí)間:2025-08-22
ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動(dòng)化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時(shí)間:2025-08-22
供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時(shí)可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺(tái)可以傾
更新時(shí)間:2025-08-22
供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s­-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)大的自動(dòng)化功能，操作更簡易。 特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能，包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對中、自動(dòng)束流設(shè)定、 自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時(shí)
更新時(shí)間:2025-08-22
供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點(diǎn)： 1. 新型
更新時(shí)間:2025-08-22
供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-08-22
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2025-08-22
供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時(shí)具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:2025-08-22
供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時(shí)間:2025-08-22
蔡司電腦斷層掃描測量機(jī)2022動(dòng)態(tài)已更新《采購/推薦》
蔡司電腦斷層掃描測量機(jī)-多探頭測量機(jī)設(shè)備;工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積。蔡司是快速ct的先驅(qū)，并且能夠在生產(chǎn)周期中對組件進(jìn)行完整的以體積為基礎(chǔ)的檢查。
更新時(shí)間:2025-08-21
Ga離子雙束掃描電鏡（FIB-SEM）
gaia3 model 2016是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計(jì)應(yīng)用的理想平臺(tái)，它同時(shí)具備極佳的精度和微量分析的能力。gaia3 model 2016擅長的一些應(yīng)用包括制備高質(zhì)量的超薄tem樣品，在技術(shù)節(jié)點(diǎn)減少層級(jí)的過程，精確的納米構(gòu)圖或高分辨率的三維重建。
更新時(shí)間:2025-08-21
綜合礦物分析儀
tescan集成式礦物分析儀（tima）是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。tima可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
更新時(shí)間:2025-08-21
集成礦物分析儀
tima3 lmu/lmh feg是一款基于場發(fā)射掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-08-21
超大樣品室鎢燈絲掃描電鏡（GM）
vega系列的設(shè)計(jì)適合各種sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-08-21
聚焦離子束掃描電鏡
vela 3 xmu/xmh是tescan最新推出的一款聚焦離子束掃描電鏡,以高品質(zhì),完全計(jì)算機(jī)控制,用戶友好界面為基礎(chǔ)的系列產(chǎn)品.具有使用方便,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,分析高效為特點(diǎn)的獨(dú)創(chuàng)設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-08-21
鎢燈絲掃描電鏡（LM）
vega系列的設(shè)計(jì)適合各種sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-08-21
泰思肯微型掃描電子顯微鏡Small Base
vega系列的設(shè)計(jì)適合各種sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了最新的技術(shù)優(yōu)勢，包括改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動(dòng)態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償技術(shù)的超快掃描系統(tǒng)，內(nèi)置的編程軟件等，使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN聚焦離子束雙束掃描電鏡LYRA3
基于高分辨率肖特基feg-sem鏡筒和高性能聚焦離子束鏡筒，lyra3 fib-sem是一款sem與fib良好結(jié)合的一體化系統(tǒng)，能夠滿足高要求客戶的需要。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN大樣品倉礦物分析儀系統(tǒng)
tescan綜合礦物分析儀（tima）是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。tima可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
更新時(shí)間:2025-08-21
泰思肯集成礦物分析儀
tescan集成式礦物分析儀（tima）是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。tima可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
更新時(shí)間:2025-08-21
電鏡拉曼一體化顯微鏡
rise電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)是一款新穎的顯微鏡技術(shù)，在一個(gè)集成的顯微鏡系統(tǒng)中結(jié)合了共焦拉曼成像和掃描電子顯微鏡技術(shù)，這種獨(dú)特的組合為顯微鏡用戶對樣品進(jìn)行綜合表征，提供了明顯的優(yōu)勢。
更新時(shí)間:2025-08-21
大樣品倉雙束電鏡 (FIB-SEM)
世界首個(gè)完全集成式xe等離子源聚焦離子束掃描電子顯微鏡----fera3，提供了超高離子束束流（最高束流為2μa），其濺射速度比ga離子源高50多倍。對于目前浪費(fèi)時(shí)間或不可能進(jìn)行的需要刻蝕的材料，fera3型儀器是一個(gè)不錯(cuò)的選擇。
更新時(shí)間:2025-08-21
鎵等離子雙束FIB系統(tǒng)
新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡（lyra3）給用戶帶來了新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)，包括改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動(dòng)態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償技術(shù)的超快掃描系統(tǒng)，內(nèi)置的編程軟件等，都使lyra3保持著很高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-08-21
可移動(dòng)/工業(yè)掃描電鏡
vega3 indusem是一款可移動(dòng)的掃描電鏡，可完全滿足工業(yè)生產(chǎn)線上隨時(shí)移動(dòng)、隨時(shí)檢測的要求，并以高品質(zhì),完全計(jì)算機(jī)控制,用戶友好界面為基礎(chǔ).具有使用方便,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,分析高效為特點(diǎn)的獨(dú)創(chuàng)設(shè)計(jì).
更新時(shí)間:2025-08-21
大樣品室鎢燈絲掃描電鏡（XM）
vega 3 xmu/xmh是一款以高品質(zhì),完全計(jì)算機(jī)控制,用戶友好界面為基礎(chǔ)的產(chǎn)品.具有使用方便,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,分析高效為特點(diǎn)的獨(dú)創(chuàng)設(shè)計(jì).
更新時(shí)間:2025-08-21
掃描電鏡能譜一體機(jī)
vega 3 easyprobe可分為高真空型和可變真空型，其運(yùn)用的領(lǐng)域非常廣泛，適合各類高等院；蚬具x擇。easyprobe是sem/eds一體化機(jī)型，實(shí)現(xiàn)了one-touch式的操作，使得操作非常簡單，甚至沒有經(jīng)驗(yàn)的人員也可以在一天內(nèi)學(xué)會(huì)操作。
更新時(shí)間:2025-08-21
泰思肯微型掃描電子顯微鏡Small Base
vega系列的設(shè)計(jì)適合各種sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了最新的技術(shù)優(yōu)勢，包括改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動(dòng)態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償技術(shù)的超快掃描系統(tǒng)，內(nèi)置的編程軟件等，使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價(jià)比
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN VEGA3鎢燈絲掃描電鏡（LM）
vega系列的設(shè)計(jì)適合各種sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了最新的技術(shù)優(yōu)勢，包括改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動(dòng)態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償技術(shù)的超快掃描系統(tǒng)，內(nèi)置的編程軟件等，使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN VEGA3大樣品室鎢燈絲掃描電鏡（XM）
vega 3 xmu/xmh是一款以高品質(zhì),完全計(jì)算機(jī)控制,用戶友好界面為基礎(chǔ)的產(chǎn)品.具有使用方便,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,分析高效為特點(diǎn)的獨(dú)創(chuàng)設(shè)計(jì).
更新時(shí)間:2025-08-21
聚焦離子束掃描電鏡VELA3 XMU/XMH
vela 3 xmu/xmh是tescan最新推出的一款聚焦離子束掃描電鏡,以高品質(zhì),完全計(jì)算機(jī)控制,用戶友好界面為基礎(chǔ)的系列產(chǎn)品.具有使用方便,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,分析高效為特點(diǎn)的獨(dú)創(chuàng)設(shè)計(jì)。該型號(hào)樣品臺(tái)行程大，可承受最大樣品重量甚至可達(dá)10kg，是現(xiàn)有樣品臺(tái)可載重最大的掃描電子顯微鏡。使用于航空航天，汽車配件，發(fā)動(dòng)機(jī)等事業(yè)單位和研究單位，其超大的樣品室和載重可為您帶來無可比擬的便捷，使得對一些不方便進(jìn)行切割等處理的樣品的觀察成為可能。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN VEGA3超大樣品室鎢燈絲掃描電鏡（GM）
vega系列的設(shè)計(jì)適合各種sem應(yīng)用及當(dāng)今研究和工業(yè)的需求。經(jīng)過10多年的不斷發(fā)展，tescan已經(jīng)成功開發(fā)、研制和制造了vega的第三代產(chǎn)品。新一代的vega給用戶帶了最新的技術(shù)優(yōu)勢，包括改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像速度更快，包含了靜態(tài)和動(dòng)態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償技術(shù)的超快掃描系統(tǒng)，內(nèi)置的編程軟件等，使vega系列產(chǎn)品保持著非常高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-08-21
可移動(dòng)/工業(yè)掃描電鏡VEGA3 InduSEM
vega3 indusem是一款可移動(dòng)的掃描電鏡，可完全滿足工業(yè)生產(chǎn)線上隨時(shí)移動(dòng)、隨時(shí)檢測的要求，并以高品質(zhì),完全計(jì)算機(jī)控制,用戶友好界面為基礎(chǔ).具有使用方便,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,分析高效為特點(diǎn)的獨(dú)創(chuàng)設(shè)計(jì). 1.獨(dú)有的四透鏡大視野光學(xué)（wide field optics™）和tescan特有可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設(shè)計(jì)，提供了多種工作模式和顯示模式。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN MIRA3場發(fā)射掃描電鏡（GMH/GMU）
最新一代的tescan mira場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了最新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)（如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過程更快，快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償，有內(nèi)置的編程軟件等），同時(shí)保持著最高的性價(jià)比。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN MAIA3超高分辨場發(fā)射掃描電鏡（LM）
maia3 model 2016產(chǎn)品是一款具有超高表面靈敏度的高分辨掃描電子顯微鏡，在不同加速電壓下均有著出色的成像能力。maia3 model 2016在低電壓下也有極好的性能，尤其對電子束敏感的半導(dǎo)體器件樣品以及納米材料等都具有優(yōu)異的表面靈敏度及高空間分辨率。全新的maia3也非常適合研究不導(dǎo)電試樣如原始狀態(tài)的生物樣品。
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN Ga離子雙束掃描電鏡（FIB-SEM）
gaia3 model 2016是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計(jì)應(yīng)用的理想平臺(tái)，它同時(shí)具備極佳的精度和微量分析的能力。gaia3 model 2016擅長的一些應(yīng)用包括制備高質(zhì)量的超薄tem樣品，在技術(shù)節(jié)點(diǎn)減少層級(jí)的過程，精確的納米構(gòu)圖或高分辨率的三維重建
更新時(shí)間:2025-08-21
TESCAN MIRA3場發(fā)射定制版掃描電鏡（AMU）
最新一代的tescan mira場發(fā)射掃描電鏡給用戶帶來了最新的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)（如改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使成像過程更快，快速掃描系統(tǒng)包括了動(dòng)態(tài)與靜態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償，有內(nèi)置的編程軟件等），同時(shí)保持著最高的性價(jià)比。
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熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑