探針臺(tái)產(chǎn)品及廠家
可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測試；
更新時(shí)間:2025-06-22
按照我國標(biāo)準(zhǔn)gb/t1551-1995及美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（astm）推薦的材料驗(yàn)收檢測方法“兩探針法”設(shè)計(jì)。配套測試架適合于測量硅芯電阻率。兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法。
更新時(shí)間:2025-06-22
二探針測試儀是運(yùn)用二探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的儀器。
更新時(shí)間:2025-06-22
儀器成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測試臺(tái)等部分組成。 主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率adc、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀特贈(zèng)設(shè)測試結(jié)果分類功能，大分類10類。
更新時(shí)間:2025-06-22
手動(dòng)檢針器 檢針器可手動(dòng)檢測鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類金屬可手動(dòng)檢測鞋底、鞋頭、鞋面、鞋幫、襪子、小型玩具等物品中的鐵類金屬。。
更新時(shí)間:2025-06-22
1、儀器供電：本儀器適用于220v電源，也可直接使用兩節(jié)12v電池供電。（好使用12v堿性電池），方便安全。判別準(zhǔn)確！ 2、電阻率測量范圍：0.1歐姆/厘米以下會(huì)自動(dòng)報(bào)警。 3、測試方法：打開筆套，將測試筆針接觸被測原料，電阻率小于0.1歐姆/厘米時(shí)會(huì)自動(dòng)報(bào)警，電阻率大于0.1歐姆/厘米不報(bào)警。
更新時(shí)間:2025-06-22
可檢測小件服裝、手套、皮革、拉鏈等，也可以協(xié)助輸送帶機(jī)找出斷針小件服裝、絲襪、手套、皮革、拉鏈等物體
更新時(shí)間:2025-06-22
電動(dòng)離心機(jī)使用方法首先將本機(jī)按放在比較平整而堅(jiān)實(shí)的臺(tái)面上，關(guān)閉各種工作開關(guān)，將調(diào)速旋鈕調(diào)到最低位置，把定時(shí)器旋鈕調(diào)到你所需要的時(shí)間，再打開電源開關(guān)，由低速逐漸向高速調(diào)至你需要的工作速度。
更新時(shí)間:2025-06-22
產(chǎn)品簡介：硅材料復(fù)合測試儀，是由二種硅材料測試儀器組合而成的 www.bjkaiyun.com二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。通過對(duì)恒流源的調(diào)整，可以對(duì)某些測量結(jié)果進(jìn)行修整，例如對(duì)普通硅材料的測試結(jié)果要乘以0.628的探險(xiǎn)頭修正系數(shù)，對(duì)硅材料薄層擴(kuò)散和導(dǎo)電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。
更新時(shí)間:2025-06-22
測量范圍 電阻率：10-2～102ω-cm；方塊電阻：10-1～103ω/□；電阻：10-3～9999ω 可測半導(dǎo)體材料尺寸
更新時(shí)間:2025-06-22
xf807-kba123型防爆云臺(tái)是隔爆型電器設(shè)備，適用于石油、化工等企業(yè)含有易燃、易爆氣體及可燃性混合物的場所。
更新時(shí)間:2025-06-22
xf807-czh-9型擴(kuò)音電話終端機(jī)分為xf807-czh-9a型（適用于普通安全場所,在交流220v斷電后相當(dāng)于普通電話機(jī)照使用）和xf807-czh-9b型。
更新時(shí)間:2025-06-22
數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國a.s.t.m標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。
更新時(shí)間:2025-06-22
可對(duì)樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測試； 屏蔽測試，完全消除光線對(duì)樣品測試的影響，保證測量的準(zhǔn)確性； 吸附測試，完全消除全自動(dòng)測試過程中樣品移動(dòng)對(duì)測試的影響；
更新時(shí)間:2025-06-22
三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時(shí)間:2025-06-21
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-21
錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-21
快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試。
更新時(shí)間:2025-06-21
應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-21
該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2025-06-21
錦正茂三維磁場探針臺(tái) 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時(shí)間:2025-06-21
錦正茂高低溫真空探針臺(tái)應(yīng)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-21
材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量高低溫真空磁場環(huán)境探針臺(tái)錦正茂高低溫真空探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-21
jzm-d30室溫探針臺(tái)材料實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體測量設(shè)備儀器錦正茂jzm-d30室溫探針臺(tái)的諸多設(shè)計(jì)都是﹡用的，探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)用戶的需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-06-21
氣氛型高溫探針臺(tái)半導(dǎo)體材料測量快速實(shí)現(xiàn)室溫-200℃環(huán)境的控溫，可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試，測試中也可實(shí)現(xiàn)惰性氣體的快速充放。
更新時(shí)間:2025-06-21
半導(dǎo)體材料測量設(shè)備高低溫真空環(huán)境探針臺(tái)高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-21
半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空環(huán)境探針臺(tái) 錦正茂高低溫真空探針臺(tái)可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測試（4.2k~500k）。
更新時(shí)間:2025-06-21
半導(dǎo)體材料測量高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)高低溫真空磁場環(huán)境探針臺(tái) 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、mems 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等域。
更新時(shí)間:2025-06-21
氣氛型高溫探針臺(tái)測試系統(tǒng)光學(xué)電學(xué)儀器此款探針臺(tái)可在真空環(huán)境下對(duì)樣品進(jìn)行光學(xué)，電學(xué)測試。
更新時(shí)間:2025-06-21
三維磁場探針臺(tái)測試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室測試設(shè)備通過真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時(shí)間:2025-06-21
實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體材料測量儀器定制高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)該探針臺(tái)和我司自主研發(fā)的高精度雙性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的高穩(wěn)定性。
更新時(shí)間:2025-06-21
實(shí)驗(yàn)測量設(shè)備磁場探針臺(tái)芯片測試半導(dǎo)體儀器用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-21
探針臺(tái)主要依據(jù)客戶的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。
更新時(shí)間:2025-06-21
磁場探針臺(tái)產(chǎn)生多維磁場半導(dǎo)體測試設(shè)備三維探針臺(tái)和錦正茂自主研發(fā)的高精度雙性電源相匹配，通過真正的雙性電源輸出，實(shí)現(xiàn)了空間任意方向上的矢量場合成。
更新時(shí)間:2025-06-21
該類型的探針臺(tái)主要依據(jù)客戶的使用情況進(jìn)行設(shè)計(jì)優(yōu)化。
更新時(shí)間:2025-06-21
氣氛型高溫探針臺(tái)真空環(huán)境材料光學(xué)電學(xué)測試控溫精度：±0.1k；真空度：10e-3pa；
更新時(shí)間:2025-06-21
定制探針臺(tái)高低溫真空磁場高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)用于高低溫真空環(huán)境下的芯片測試，材料測試，霍爾測試，電磁輸運(yùn)特性等。
更新時(shí)間:2025-06-21
高低溫真空探針臺(tái)測試系統(tǒng)鍍金無氧銅樣品臺(tái)可升加載磁場，低溫防輻射屏設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-06-21
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測試（10k~325k）。磁場強(qiáng)度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。磁場均勻性：中心區(qū)域60mm球體內(nèi)為1%。
更新時(shí)間:2025-06-21
主要技術(shù)指標(biāo)：※ 溫度范圍：室溫—350℃（硅片上邊溫度）※ 控溫精度：±1℃※ 溫度分辨率：0.1℃※ 樣品尺寸：8英寸（需要有固定夾具，還有10mmx10mm,20mmx20mm樣品也需要考慮單獨(dú)固定）
更新時(shí)間:2025-06-21
可以進(jìn)行真空環(huán)境中的高低溫測試（10k~325k）。磁場強(qiáng)度在x軸上為0.75t，在y軸上為0.75 t，在z軸上為0.4t。
更新時(shí)間:2025-06-21
高低溫探針臺(tái)t8-ly100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個(gè)80k-420k高低溫測試環(huán)境，
更新時(shí)間:2025-06-21
可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及iv曲線等參數(shù)檢測，用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。
更新時(shí)間:2025-06-21
1、真空腔體約直徑260mm，2、帶有4英寸高透射觀察窗，材質(zhì)熔融石英3、樣品載臺(tái)直徑：50mm 樣品載臺(tái)平整度<5微米
更新時(shí)間:2025-06-21
變溫真空微探針臺(tái)系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于半導(dǎo)體材料如砷化鎵（gaas）、非晶硅碲鎘汞等需要低溫（70k）或高溫（730k）下的測試需要。變溫微探針系統(tǒng)可提供精確的溫度控制和無振動(dòng)無噪音的工作環(huán)境。該微探針系統(tǒng)具有1到7根獨(dú)立控制的探針，每根探針帶有可三軸移動(dòng)線纜，可直線移動(dòng)，可精確定位，定位精度優(yōu)于50微米，該平臺(tái)可執(zhí)行寬范圍的測試和實(shí)驗(yàn)，包括：材料的電子表針和深層次瞬態(tài)光譜的測試。mmr擁有專利的joule-thomson溫度臺(tái)提供了低溫制冷和高溫加熱的環(huán)境，提供了自動(dòng)化的高精度的寬范圍溫度控制。該變溫微探針系統(tǒng)有很多可選配件，包括從上至下的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)、分子泵、觀察窗、光纖光學(xué)探針操作器、隔振臺(tái)等。這套系統(tǒng)，可滿足實(shí)驗(yàn)室提供多種測試需要和機(jī)會(huì)。
更新時(shí)間:2025-06-21
coda system有彈簧加載的組件，用于板對(duì)板互連以及各種數(shù)據(jù)，電源和電池充電應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-06-20
coda system有彈簧加載的組件，用于板對(duì)板互連以及各種數(shù)據(jù)，電源和電池充電應(yīng)用。
更新時(shí)間:2025-06-20
mpi vega 探針系列已準(zhǔn)備好滿足激光二管（vcsel、eel）和光學(xué)模塊市場的各種測試和材料處理要求。
更新時(shí)間:2025-06-13
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